加入星計(jì)劃,您可以享受以下權(quán)益:

  • 創(chuàng)作內(nèi)容快速變現(xiàn)
  • 行業(yè)影響力擴(kuò)散
  • 作品版權(quán)保護(hù)
  • 300W+ 專業(yè)用戶
  • 1.5W+ 優(yōu)質(zhì)創(chuàng)作者
  • 5000+ 長(zhǎng)期合作伙伴
立即加入

IC制造

加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論
  • 通道阻絕植入(Channel Stop)詳解
    通道阻絕植入(Channel Stop)詳解
    在現(xiàn)代集成電路(IC)的制造中,電晶體(如MOSFET)是芯片的核心元件。每個(gè)電晶體需要在晶圓上彼此隔離,以防止其相互之間的不必要干擾。這種隔離通常通過(guò)以下兩種方式實(shí)現(xiàn):
  • 缺陷密度(Defect Density)詳解:從概念到實(shí)際應(yīng)用
    缺陷密度(Defect Density)詳解:從概念到實(shí)際應(yīng)用
    在集成電路(IC)制造中,“缺陷密度”(Defect Density)是一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo),用于評(píng)估晶圓制造工藝的成熟度和產(chǎn)品質(zhì)量。它代表了單位面積晶圓上產(chǎn)生的缺陷數(shù)量,直接關(guān)系到最終芯片的良率和可靠性。
  • IC制造與生態(tài)發(fā)展論壇落幕:匯聚IC制造最新趨勢(shì)
    IC制造與生態(tài)發(fā)展論壇落幕:匯聚IC制造最新趨勢(shì)
    IC制造是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的重中之重。2024年5月24日,一年一度的IC制造與生態(tài)發(fā)展論壇在廣州知識(shí)城國(guó)際會(huì)展中心舉行。在IC制造與生態(tài)發(fā)展論壇上,來(lái)自多家IC制造產(chǎn)業(yè)鏈相關(guān)企業(yè)的重量級(jí)嘉賓帶來(lái)了關(guān)于最新技術(shù)成果和發(fā)展方向的精彩演講。與非網(wǎng)記者也受邀全程參與了此次盛會(huì),并帶來(lái)相關(guān)演講報(bào)道。
    4906
    06/13 13:48

正在努力加載...