晶圓檢測(cè)

• 怎么制備半導(dǎo)體晶圓片切割刃料？
  

  半導(dǎo)體晶圓片切割刃料的制備是一個(gè)復(fù)雜而精細(xì)的過(guò)程，以下是一種典型的制備方法： 一、原料準(zhǔn)備 首先，需要準(zhǔn)備高純度的原料，如綠碳化硅和黑碳化硅。這些原料具有高硬度、高耐磨性和高化學(xué)穩(wěn)定性，是制備切割刃料的理想選擇。 二、破碎與篩分 顎式破碎：將原料放入顎式破碎機(jī)中進(jìn)行初步破碎，得到一定粒度的顆粒。 篩分：通過(guò)篩分設(shè)備將破碎后的顆粒進(jìn)行分級(jí)，篩選出符合要求的粒度范圍。 三、濕法球磨分級(jí) 將篩分后的顆粒

  萬(wàn)智光學(xué)

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  碳化硅 晶圓檢測(cè)
• 降低晶圓TTV的磨片加工有哪些方法
  

  降低晶圓TTV（Total Thickness Variation，總厚度變化）的磨片加工方法主要包括以下幾種： 一、采用先進(jìn)的磨削技術(shù) 硅片旋轉(zhuǎn)磨削： 原理：吸附在工作臺(tái)上的單晶硅片和杯型金剛石砂輪繞各自軸線旋轉(zhuǎn)，砂輪同時(shí)沿軸向連續(xù)進(jìn)給。砂輪直徑大于被加工硅片直徑，其圓周經(jīng)過(guò)硅片中心。 優(yōu)點(diǎn)：?jiǎn)未螁纹ハ?，可加工大尺寸硅片；磨削力相?duì)穩(wěn)定，通過(guò)調(diào)整砂輪轉(zhuǎn)軸和硅片轉(zhuǎn)軸之間的傾角可實(shí)現(xiàn)單晶硅片面型的

  萬(wàn)智光學(xué)

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  碳化硅 半導(dǎo)體晶圓

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