軟錯誤是指由輻射對硅集成電路(Si ICs)的影響導致的設備的暫時性故障。軟錯誤會影響設備的性能和可靠性,尤其是在空間、防御、醫(yī)療和電力系統等高輻射環(huán)境中。隨著電子設備的不斷微型化和高密度化,軟錯誤的發(fā)生概率也隨之增加,因為現在低能量的α粒子也能翻轉一個存儲器位或改變邏輯電路的時序。其中,一種主要的α粒子輻射源是用于封裝中連接元件的錫膏,它們含有α放射性元素。由于使用了倒裝焊(flip-chip)和3D封裝,錫膏凸點(solder bumps)已經非常靠近硅器件,即使是低能量的α射線也能引起軟錯誤。因此,需要開發(fā)低α活性無鉛錫膏(Low Alpha activity Pb-free solders),以減少軟錯誤的發(fā)生。