兩個BUCK電路精密并聯(lián)

01 Buck電路

一、前言

昨晚焊接的這款測試電路板，一不小心，電路冒煙了。下午下課之后，查找一下存在的問題。為什么會燒掉。接下來對于該電路繼續(xù)調(diào)試。

二、修理電路

首先，拆焊下燒壞的RT8024 Buck芯片。很可惜，也許昨天芯片燃燒的太劇烈了。線路已經(jīng)完全燒沒了。最后重新制作一塊測試電路板。

一分鐘之后，獲得了新的測試電路板。下面將可以使用的元器件從舊電路板搬移到新電路板上。重新選擇了兩顆新的RT8024焊接上。經(jīng)過清洗，電路板做了再次測試的準(zhǔn)備了。

三、測試結(jié)果

下面給兩個通道施加 5V電源，測量它們各自的輸出。為了避免電路再次燒壞，先將它們的輸出相互斷開。兩路Buck電源輸入都是5V。第一路輸出為 3.3V。第二路輸出為 2V左右。現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)原理圖設(shè)計錯誤，原本積分輸出信號現(xiàn)在連接錯誤了。將原來的連接斷開，將 U4 ?第一管腳連接到 U2 的第五管腳。在PCB圖上，需要通過跳線進(jìn)行修改。這樣才能夠完成第二路的電流跟蹤第一路輸出電流。

使用一個跳線修改了誤差積分電容到 U2 的調(diào)整端。下面上電進(jìn)行測試。經(jīng)過觀察發(fā)現(xiàn)，在一定負(fù)載下，電路輸出電壓會有跳動。在采樣電阻后面，增加了兩個濾波電容，此外，對于積分電容修改為 1微法，經(jīng)過修改之后，電路就穩(wěn)定了。下面測試電路的輸出電流。

▲ 圖1.3.1 最終的電路圖

??在負(fù)載電流100mA的情況下，輸出電壓是穩(wěn)定的。當(dāng)負(fù)載電流為 200mA時，輸出電壓發(fā)生了振蕩。500mA負(fù)載電流下，輸出電壓振蕩加劇。

▲ 圖1.3.2 輸出電壓信號:100mA

▲ 圖1.3.3 輸出電壓波形:200mA

??將輸入電壓從5V提高到 9V，此時對應(yīng)的振蕩消失了。下面利用電子負(fù)載給并聯(lián)Buck電路不通的負(fù)載電流。測量在這個過程中，兩個通道各自的工作電流。由于是開關(guān)電源，效率很高，所以兩路的工作電流，也就是兩路的輸入電流與它們的輸出電流基本上成正比。在此過程中輸出電壓非常穩(wěn)定。此時對應(yīng)的電流采樣電阻為 1歐姆。測試結(jié)果顯示，兩路電流匹配的非常好。之間的差異在5% 之內(nèi)。這些差別應(yīng)該來自于線路中分布的電阻以及 采樣電阻之間的差異。

▲ 圖1.3.4 不同負(fù)載電流下兩個通道的工作電流

??將采樣電阻從原來的1歐姆，修改成 0.22歐姆，此時外部引線上的電阻對于電路影響比重增加了。反映到測量結(jié)果來看，在不同的負(fù)載下，兩個通道工作電流偏差比較大了。為了改進(jìn)，需要對電路布線和采樣電阻進(jìn)一步優(yōu)化。

▲ 采樣電阻0.22歐姆情況下對應(yīng)的兩路工作電流

※ 總??結(jié) ※

本文驗證了兩個Buck電路精密并聯(lián)的電路。利用輸入采樣電阻獲得兩路的工作電流，使用一個高共模輸入運放 LT1490 對采樣電壓的誤差進(jìn)行積分，調(diào)節(jié)第二個 Buck電路輸出電壓，使得兩路輸出電流可以達(dá)到非常高的匹配。為了進(jìn)一步提高兩路匹配精度，后面還需要對電路布局進(jìn)行優(yōu)化。

參考資料

[1]兩個Buck電路輸出電流精密跟蹤（電路燒掉了）: https://blog.csdn.net/zhuoqingjoking97298/article/details/135276739

[2]Paralleling Linear Regulators Made Easy: https://www.analog.com/en/technical-articles/paralleling-linear-regulators-made-easy.html

[3]精密跟蹤BUCK電源并聯(lián): https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/135158257

[4]Buck電路并聯(lián)對應(yīng)的均流測量: https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/135154013

[5]如何將多個LDO進(jìn)行并聯(lián): https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/135139289

[6]穩(wěn)壓芯片并聯(lián)的結(jié)果: https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/135132511