高速I(mǎi)/O

• 英特爾又一芯粒技術(shù)重大突破！專為消除AI數(shù)據(jù)瓶頸
  英特爾展示了與其CPU封裝在一起的集成OCI（光學(xué)計(jì)算互連）芯粒，該項(xiàng)技術(shù)雖然尚處于技術(shù)原型（prototype）階段，但是對(duì)于在新興AI基礎(chǔ)設(shè)施中實(shí)現(xiàn)光學(xué)I/O（輸入/輸出）共封裝已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了關(guān)鍵突破，是推動(dòng)高帶寬互連創(chuàng)新的關(guān)鍵一步。

  張慧娟

  2140

  2024/08/01

  與非觀察 chiplet
• 阿爾泰科技助推電暈放電探測(cè)，高速、高精度信號(hào)采集
  電暈放電是一種瞬態(tài)放電現(xiàn)象，其放電持續(xù)時(shí)間非常短暫，一般在納秒級(jí)別。同時(shí)電暈放電探測(cè)系統(tǒng)通常需要對(duì)采集到的大量數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)處理和分析，為了準(zhǔn)確捕捉和分析電暈放電信號(hào)，北京阿爾泰的高速數(shù)據(jù)采集卡具有較高的數(shù)據(jù)傳輸和數(shù)據(jù)處理能力，因此使用高速數(shù)據(jù)采集卡和配套系統(tǒng)就能輕松實(shí)現(xiàn)—實(shí)時(shí)采集和記錄電暈放電事件的波形數(shù)據(jù)。

  eefocus_3953003

  613

  2024/01/05

  測(cè)試測(cè)量 數(shù)據(jù)采集卡

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