自從PCIe 1.0規(guī)范以來,在不到20年里,業(yè)界已經(jīng)為迎接PCIe Gen 6.0規(guī)范作好準(zhǔn)備。由于每一代新標(biāo)準(zhǔn)較上一代的數(shù)據(jù)速率都會翻一番,PCIe Gen 6.0的速度要比2003年問世的最初PCIe Gen 1.0規(guī)范快25倍。數(shù)據(jù)速率每三年翻一番,給負(fù)責(zé)物理層性能的驗(yàn)證工程師帶來了無盡的挑戰(zhàn),包括PHY、芯片、插件和系統(tǒng),因?yàn)楫?dāng)前市場上的測試設(shè)備并不能完全滿足所有這些器件的測試需求。
關(guān)鍵電氣驗(yàn)證設(shè)備的性能不斷提高,比如示波器和誤碼率測試儀(BERT),盡管可以解決絕大部分挑戰(zhàn),但性能的提高也影響著測試設(shè)置和設(shè)備使用的復(fù)雜程度,進(jìn)而提高了驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)的測試和調(diào)試時(shí)間。測試設(shè)備的性能超過被驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)性能,是一個(gè)自然進(jìn)化過程,但工程師面臨的某些挑戰(zhàn)并不是單純靠提高測試設(shè)備性能就能完全解決的。當(dāng)前工程師需要工具來補(bǔ)充現(xiàn)有設(shè)備的性能,這些工具要提供更快的洞見能力,杰出的易用性,同時(shí)又不會明顯影響項(xiàng)目的資本預(yù)算。通過觀察行業(yè)大趨勢,我們可以看出每種需求都是真實(shí)存在的。
產(chǎn)品開發(fā)周期挑戰(zhàn):在PCIe測試中對加快洞見能力的需求
由于最新PCIe標(biāo)準(zhǔn)必須支持所有以前各代PCIe標(biāo)準(zhǔn),所以對驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)來說,每一代新的PCIe標(biāo)準(zhǔn)的測試矩陣都會呈指數(shù)級增長。再加上標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展導(dǎo)致的測試復(fù)雜度增加,這明顯提高了實(shí)現(xiàn)最新PCIe標(biāo)準(zhǔn)所用的整體測試時(shí)間。而用戶預(yù)期這些團(tuán)隊(duì)會以與前幾代類似的產(chǎn)品開發(fā)周期窗口推出新一代產(chǎn)品,則使形勢變得更加復(fù)雜。
評估鏈路性能和調(diào)試問題要用更長的時(shí)間,當(dāng)前市場上的設(shè)備無法為工程師提供支撐,讓他們節(jié)省幾天或幾周的調(diào)試和性能評測時(shí)間,以滿足他們的時(shí)間表。工程師一直需要示波器和BERT這樣重點(diǎn)提升性能極限的高性能工具,但同時(shí)業(yè)界在工具袋里也需要一種新的工具?,F(xiàn)代工程師需要一種新的測試測量設(shè)備品類,這種設(shè)備設(shè)置和使用起來要更簡便,能夠加快洞見能力,可以在設(shè)計(jì)和驗(yàn)證過程中支持更頻繁的測試,在開發(fā)周期中更早地發(fā)現(xiàn)問題。
預(yù)計(jì)勞動力缺口:在PCIe測試中對簡便易用性的需求
隨著數(shù)字世界更深入地滲透到人們的日常生活中,對半導(dǎo)體和半導(dǎo)體器件的需求呈指數(shù)級態(tài)勢持續(xù)增長。這種拋物線增長最顯著的結(jié)果,是在供應(yīng)鏈和物流方面給行業(yè)帶來了明顯挑戰(zhàn)。業(yè)界很少提及但可能最嚴(yán)重的問題,是預(yù)計(jì)支撐增長的工程師隊(duì)伍會出現(xiàn)短缺。據(jù)2022年SemiCon West大會演示,到2030年,預(yù)計(jì)支撐半導(dǎo)體行業(yè)增長所需的工程師缺口約為30萬。之所以出現(xiàn)這樣的缺口,主要源于新畢業(yè)的大學(xué)生很少轉(zhuǎn)入這個(gè)行業(yè),另外預(yù)計(jì)行業(yè)在未來多年內(nèi)都會走弱。
預(yù)計(jì)這種勞動力短缺將給業(yè)內(nèi)的公司帶來明顯的并發(fā)癥,而且由于HSIO (高速I/O)器件開發(fā)和驗(yàn)證的技術(shù)特點(diǎn),這個(gè)問題解決起來并不容易。隨著標(biāo)準(zhǔn)更新?lián)Q代,PCIe將變得越來越復(fù)雜。支撐器件開發(fā)和驗(yàn)證的人力缺口,預(yù)計(jì)將給業(yè)內(nèi)的工程團(tuán)隊(duì)的開發(fā)時(shí)間表和測試工作流程帶來進(jìn)一步壓力。
為解決業(yè)內(nèi)預(yù)計(jì)的人力缺口,各公司可能要比以前更寬泛地分配工程設(shè)計(jì)任務(wù),這對測試設(shè)備提出了需求,測試設(shè)備要比現(xiàn)有解決方案設(shè)置和操作起來更簡便。隨著這種大趨勢顯現(xiàn),越來越重要的一點(diǎn)是測試設(shè)備需要的培訓(xùn)和操作經(jīng)驗(yàn)必須更少,同時(shí)仍能有效洞見HSIO器件的健康狀況和性能。
重新審視資金支出:在PCIe測試中對優(yōu)化資本預(yù)算的需求
隨著后續(xù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)速率提高,業(yè)內(nèi)對更高性能的設(shè)備的需求也在提高。支持這一設(shè)備所需的帶寬在不斷增長,這種性能增長則使得整套測試設(shè)備的購買成本明顯提高。這些設(shè)備的成本之高,導(dǎo)致即使是大型公司通常也只會購買幾套完整系統(tǒng)。小型公司的壓力就更大了,他們通常買不起完整驗(yàn)證測試所需的設(shè)備,必須租賃設(shè)備或利用第三方測試機(jī)構(gòu)才能進(jìn)行驗(yàn)證和調(diào)試。
由于性能對整個(gè)PCIe評估和一致性測試至關(guān)重要,因此各公司必須了解執(zhí)行測試的重大設(shè)備成本,不管是選擇購買設(shè)備還是選擇租賃設(shè)備。雖然沒有辦法完全避免這個(gè)問題,但能夠更早更快地有效洞見設(shè)計(jì),而又不會給開發(fā)方案帶來明顯資本預(yù)算壓力的設(shè)備,正日益成為受歡迎的解決方案。如果擁有的設(shè)備能夠提高測試設(shè)置數(shù)量,縮短整體測試時(shí)間,加快測試速度,而又不會給計(jì)劃預(yù)算帶來明顯壓力,那么工程團(tuán)隊(duì)就可以在需要時(shí)有效使用更高性能的設(shè)備。
滿足市場需求:全新的PCIe測試測量解決方案現(xiàn)已上市
業(yè)內(nèi)一直需要高性能驗(yàn)證和一致性測試設(shè)備,但只有能夠加快洞見速度、簡便易用、價(jià)格經(jīng)濟(jì)的設(shè)備,才能為當(dāng)今PCIe測試工作流程中的現(xiàn)有工具提供關(guān)鍵的補(bǔ)充方案。泰克專注了解行業(yè)需求,評估大趨勢,與客戶持續(xù)溝通,開發(fā)突破性的創(chuàng)新方案,解決實(shí)際問題。泰克最新創(chuàng)新產(chǎn)品TMT4 裕度測試儀是市場上第一個(gè),也是唯一把重點(diǎn)放在PCIe Gen 3和Gen 4測試速度和易用性,同時(shí)又考慮行業(yè)資本預(yù)算限制的解決方案。TMT4 裕度測試儀再次證明泰克不斷深入理解行業(yè)和客戶需求,持續(xù)開發(fā)突破性產(chǎn)品。泰克致力重塑測試測量領(lǐng)域,解決客戶痛點(diǎn),與時(shí)俱進(jìn),改善客戶工作流程。
作者: Michael Seaholm, 泰克科技公司高性能示波器產(chǎn)品經(jīng)理