在剛剛舉辦的美國國際電力電子應用展覽會(APEC)上,泰克和 EA共同展示最新技術和創(chuàng)新成果。泰克和 EA 的專家團隊同參加本次展覽會,并就測量解決方案和電力電子技術的最新成果進行深入探討。
泰克 5 系列 MSO 示波器 - PE Systems 雙脈沖測試系統(tǒng)
要對功率器件中使用的寬禁帶半導體進行動態(tài)響應和開關損耗評估,雙脈沖測試 (DPT) 極其重要。泰克與 PE-Systems 合作推出了一個自動化系統(tǒng),利用泰克 5 系列 MSO 示波器,采用模塊化和可變溫度測量方法對各種電壓范圍進行測量。
泰克借助符合 JEDEC 和 IEC 標準的自動測量解決方案簡化了設備驗證。該解決方案采用一系列探頭和獲得專利的時序偏差校準算法,可準確捕獲開關參數(shù)。與泰克函數(shù)發(fā)生器和 Keithley 功率器件相結合,則構成了一個寬禁帶器件全面測試端到端解決方案。
泰克 5 系列薄型示波器電機驅動測試解決方案
IMDA 解決方案為汽車工程師進行三相逆變器和電機驅動分析提供必要的測量數(shù)據(jù),有助于提高測試效率,減小器件尺寸、重量和成本。該解決方案包括靜態(tài)相量、DQ0 和諧波分析,以及趨勢圖動態(tài)分析,用于評估電機的響應特性,例如啟動/停止曲線。
功率半導體 CV/IV 特性測試
CV/IV 特性測試對于評估功率半導體器件,尤其是用于功率轉換的開關設備,至關重要。Keithley 4200A 用于 CV 特性測量,而 2651A Source Meter 用于直流 IV 特性測量,可確定功率半導體在開啟狀態(tài)下的最大輸出功率。在測試過程中,使用指定的 8010 測試夾具可確保測試的安全性和準確性,對于所有 Keithley 源測量單元 (SMU) 產(chǎn)品,還可借助 ACS 軟件簡化測試過程。
此外,EA 對以下產(chǎn)品進行演示:
在展商演講環(huán)節(jié),John Tucker 與 Chris Loberg 共同深入探討了高功率電子元件的安全處理與測試問題。他們的演講聚焦于尖端的碳化硅和氮化鎵技術,介紹了確保工作場所安全的高效探測技術。與會者對 IMDA 和雙脈沖表現(xiàn)出濃厚的興趣,同時對隔離探頭和 4 系列 MSO 也給予了高度關注。
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