ESD靜電的危害與失效類型及模式?相信不少人是有疑問的,今天深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司就跟大家解答一下!
一、ESD的危害
1、失效的電子設(shè)備有60%~75%都是由ESD造成的;
2、對于新興技術(shù)行業(yè),尤其是高科技微電子,半導(dǎo)體,電磁敏感類及光器件的應(yīng)用,比例將上升到90%。 因靜電原因造成的電子行業(yè)的損失每年都多達(dá)幾百億美元;
3、靜電放電能夠產(chǎn)生高頻脈沖電流,同時(shí)產(chǎn)生高頻脈沖干擾,導(dǎo)致設(shè)備收到錯誤指令而誤操作,從而對產(chǎn)品或設(shè)備產(chǎn)生危害;
4、靜電放電能夠?qū)е挛㈦娮悠骷p壞或擊穿,同時(shí)可引起功能退化或潛在性失效;
5、靜電放電產(chǎn)生的高壓,會危及人身的安全;
6、在易燃易爆品或粉塵,油霧等生產(chǎn)場所易引起爆炸和火災(zāi)。
二、ESD引起的失效類型
1、感應(yīng)或干擾失效
靜電放電產(chǎn)生電火花,電脈沖,形成干擾信號,設(shè)備接受錯誤信息。
2、直接接觸放電
電子器件或系統(tǒng)成為ESD的導(dǎo)電通路,與電壓有關(guān);
引起介質(zhì)擊穿,表面擊穿,氣體電弧放電,與功率有關(guān);
金屬化層融化,體擊穿。
三、ESD引起的失效模式
1、硬損傷(突發(fā)性完全失效)
約占10%。表現(xiàn)為電器參數(shù)完全突然惡化,失去原有功能。主要原因是靜電放電造成過壓使介質(zhì)擊穿,或過流使內(nèi)部金屬導(dǎo)線焰斷,硅片局部融化等。
2、軟損傷(潛在性失效)
約占90%。受損傷的器件的各類電器參數(shù)仍合格,但其使用壽命卻極大縮減。產(chǎn)品或系統(tǒng)可靠性降低,后續(xù)使用過程中繼續(xù)遭受ESD軟損傷或其他力損傷累積而過早失效。
綜上所述,相信通過本文的描述,各位對ESD靜電的危害與失效類型及模式都有一定了解了吧,有疑問和有不懂的想了解可以隨時(shí)咨詢深圳比創(chuàng)達(dá)這邊。今天就先說到這,下次給各位講解些別的內(nèi)容,咱們下回見啦!也可以關(guān)注我司wx公眾平臺:深圳比創(chuàng)達(dá)EMC!
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