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隨著物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展與普及，Wi-Fi 等通信功能的配置也在加速。為了保證通信功能，所有的白色家電和黑色家電都需要始終處于通電狀態(tài)，因此待機功耗大大增加。另外，顯示器的大型化、高性能化和多功能化發(fā)展，需要設備搭載高性能微控制器，這也造成設備工作功耗的增加。目前，電機部分和電源部分的待機功耗改善工作已經(jīng)到達瓶頸，亟需開發(fā)出創(chuàng)新技術。
在白色家電的電路開發(fā)中，傳統(tǒng)上，工程師一般在降低功耗上會從 AC/DC、DC/DC 電源部分考慮，傳統(tǒng)的電源已經(jīng)從 3.6W 降到了 1.7W 左右，能耗降低接近 50%。但是再降低難度會比較大，在 2013 年，歐盟規(guī)定了 0.5W 待機功耗的標準。所以即使把 AC/DC 和 DC/DC 降得再低，也沒有辦法滿足 0.5W 的標準，因此羅姆放眼整個電源部分，看到電機輸入電壓檢測電路和過零檢測電路十年來都沒有改變，而且也沒有同行業(yè)公司在做相關方面的工作，因此，ROHM 從這方面入手，開發(fā)出無需光耦也可進行過零檢測的 IC，來降低待機功耗，羅姆的 BM1ZxxxFJ 系列產(chǎn)品由此誕生。
解決光耦的三大問題，過零檢測IC讓待機功耗降至0.01W
為了有效地對電機和微控制器進行控制，很多白色家電中都需要配置用來檢測 AC（交流）波形的 0V 電位的過零檢測電路。在以往的過零檢測電路中，通常會使用光耦，其功耗約占整個應用的待機功耗的 1/2。而且，光耦利用光學器件傳輸信時，存在時間延遲所造成的功率損耗問題，轉換效率也較差，另外，發(fā)光二極管存在樹脂等材料隨時間老化的問題，可靠性堪憂。
ROHM 半導體（北京）有限公司青島分公司經(jīng)理徐濟煒介紹，“BM1ZxxxFJ 系列新產(chǎn)品是能夠實現(xiàn)過零檢測的 IC。由于無需光耦就可以進行過零檢測，因此功耗極低，可將正常通電時的過零檢測電路的待機功耗降至 0.01W。另外，在驅動應用時，將以往使用光耦的過零檢測電路中隨 AC 電壓變化而波動的延遲時間誤差降至±50μs 以內。極低的待機功耗和極小的延遲時間誤差，使得即使在各國不同的 AC 電源電壓下，也可高效地驅動電機，成功實現(xiàn)了以往的過零檢測電路很難實現(xiàn)的高精度微控制器驅動。而且，由于不再需要光耦，還可以降低經(jīng)年老化的風險，有助于提高產(chǎn)品的可靠性?！?/p>
在輸入 AC 過零時，一般要給 MCU 一個控制信號，當延遲時間越長，控制越不精準，導致功率的損耗和控制誤差就會越大。通過光耦檢測電路和過零檢測 IC 做了對比，數(shù)據(jù)顯示，光耦的檢測電路延遲的時間要比過零檢測 IC 延遲的時間要大得多，而且它會隨著輸入電壓的變化而變化。
另外，過零檢測 IC 可以輕松替換過零檢測電路，羅姆的新產(chǎn)品陣容強大，包括滿足普通整流方式和倍壓整流方式的產(chǎn)品，同時既有支持脈沖的觸發(fā)方式，也有支持邊緣的觸發(fā)方式，用戶可以實現(xiàn)輕松替換。如果傳統(tǒng)方式對延遲做了內部軟件處理，在應用 IC 時，也可以通過外部電阻調整延遲時間，這就保證了在軟件不變的情況下，也可以做輕松替換。
提高互聯(lián)網(wǎng)白色家電的可靠性
傳統(tǒng)光耦過零檢測電路目前在國內家電市場大概有 13 億的規(guī)模。徐濟煒強調，“羅姆的過零檢測 IC 是一個新產(chǎn)品，我們主要針對于互聯(lián)網(wǎng)家電，也就是說對能耗方面有特別要求的產(chǎn)品，主要目標是互聯(lián)網(wǎng)家電、具有 Wi-Fi 功能的家電、對能耗要求較高的高端家電。”
在使用光耦的情況下，隨著時間的推移亮度會降低，性能會下降，從而有發(fā)生故障的風險。此次的新產(chǎn)品無需光耦，因此不僅可降低故障風險，還可將 AC 電壓帶來的延遲時間誤差降至±50μs 以內。在這樣的前提下，即使各國的電源電壓（100～230V）標準不同，也可有效地驅動電機，成功實現(xiàn)了以往在過零檢測電路方面難以實現(xiàn)的高精度微控制器驅動。
新產(chǎn)品支持的輸入電壓高達 600V，并且通過在輸出時分壓至微控制器的額定電壓以下的方式，可驅動最大額定電壓為 5V 的常規(guī)微控制器。另外，還配備了“電壓鉗位功能”，可防止電壓超過 4.8V，在輸入電壓較高時可以保護微控制器。因此，適用于使用以空調等為對象的高壓驅動電機的應用，即使出現(xiàn)異常電壓，也能夠做到對微控制器的保護。
過零檢測評估板的demo展示
BM1Z002FJ-EVK-001 評估板正面
BM1Z002FJ-EVK-001 評估板背面
最后徐濟煒進行了 BM1Z002FJ-EVK-001 開發(fā)板展示。
從上圖可以看出，過零檢測 IC 評估板正面包括保險線、X 電容，主電解電容、電感和輸出電容。在正面關聯(lián)的部分只有兩個部件，其中的兩個二極管是過零檢測電路的整流二極管。背面包括電源的整流部分、整流橋、電源 IC BM2P129、續(xù)流二極管、 LDO。
過零檢測 IC 電路只包含七個部件，正面兩個整流二極管、整流后的限流電阻、過零檢測 IC、IC 去耦電容和輸出上拉電阻，電路部件非常少，沒有傳統(tǒng)電路里面的光耦，待機功耗減小，老化問題得到解決，可靠性更高，整個電路的延遲時間更短。新的過零檢測 IC 解決了傳統(tǒng)方案里面光耦電路帶來的三個問題，另外，過零檢測 IC 比較小，有利于整個電源的小型化和集成化。
