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芯片測試

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芯片測試,設(shè)計初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝,因此,對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求,設(shè)計工程師必須在設(shè)計初期就做出測試規(guī)劃。

芯片測試,設(shè)計初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝,因此,對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求,設(shè)計工程師必須在設(shè)計初期就做出測試規(guī)劃。收起

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    芯片測試中的Trim(微調(diào))
    在集成電路(IC)的測試過程中,Trim(微調(diào))是指通過對芯片內(nèi)部某些參數(shù)(如電壓、電流、頻率等)的調(diào)整,使其達(dá)到設(shè)計規(guī)格或性能要求的過程。由于現(xiàn)代芯片制造工藝中,隨著尺寸越來越小、集成度越來越高,芯片的各個參數(shù)存在一定的偏差,因此Trim操作能夠提高良率并優(yōu)化芯片性能,確保最終產(chǎn)品滿足高質(zhì)量要求。
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    11/14 14:30
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    器件的測試在集成電路(IC)行業(yè)中扮演著極其關(guān)鍵的角色。它需要非常精確地生成和測量電信號,尤其是微伏(μV)級電壓和納安(nA級電流。由于模擬器件相較于數(shù)字電路對信號波動更加敏感,因此,測試的精確度要求更高。
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    如何理解芯片測試中的DUT?
    理解并深入掌握DUT(Device Under Test,被測器件)在集成電路測試中的概念是非常關(guān)鍵的,因為DUT是整個測試過程中直接與ATE(自動化測試設(shè)備)交互的對象。
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    芯片測試程序
    測試程序,即被ATE(Automatic Test Equipment,自動測試設(shè)備)識別和執(zhí)行的指令集,是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件(DUT)交互,具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵,如何測量其響應(yīng)信號,以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值(Limit)進行比較,最終判定測試結(jié)果為“通過”(Pass)還是“失效”(Fail)。
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    11/07 09:47
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    Mbist仿真初探
    Mbist 方法是目前大容量存儲器測試的主流技術(shù),該技術(shù)利用芯片內(nèi)部專門設(shè)計的BIST 電路進行自動化測試,能夠?qū)η度胧酱鎯ζ鬟@種具有復(fù)雜電路結(jié)構(gòu)的嵌入式模塊進行全面的測試。MBIST 電路將產(chǎn)生測試向量的電路模塊以及檢測測試結(jié)果的比較模塊都置于芯片的內(nèi)部,在測試完成后,將測試的結(jié)果通過芯片的測試引腳送出到芯片的外部。
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    深耕芯片檢測廿載,服務(wù)客戶超千家,他為“中國芯”保駕護航
    談起創(chuàng)業(yè),聚躍檢測創(chuàng)始人尚躍說得最多的,不是公司高壁壘的尖端技術(shù),而是企業(yè)文化和社會責(zé)任。近日,張通社采訪了這位80后創(chuàng)業(yè)者。“我在創(chuàng)業(yè)路上遇到了很多貴人,得到了很多幫助,一直心存感恩。如今公司正在蓬勃發(fā)展,我也希望能夠承擔(dān)更多責(zé)任回饋社會。”他對員工情同手足,“聚賢納才,躍然而上”是他治理公司的理念;他立志“讓中國沒有難測的芯片”,希望用自己的專業(yè)技術(shù),將“中國芯”打造成“全球芯”。
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    09/02 11:20
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    在上海張江,有這樣一家企業(yè):兩位測試?yán)媳鴰ьI(lǐng)團隊默默耕耘,創(chuàng)業(yè)13年來,逐漸成長為一家國家級專精特新“小巨人”企業(yè),已服務(wù)過多家半導(dǎo)體龍頭公司,包括展銳、晶晨、華天、長電、甬矽、偉測等,團隊規(guī)模達(dá)350人,遍布上海、南通、無錫、韓國、馬來西亞,并在最近5年內(nèi)獲得了4輪融資。今年4月,她又在眾多創(chuàng)業(yè)公司中脫穎而出,榮獲“2023年度浦東新區(qū)創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)20強”。
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    從測試作業(yè)的精細(xì)程度和作業(yè)用人數(shù)量看,晶圓測試(CP)屬于“晶圓級”工藝,數(shù)千顆甚至數(shù)萬顆裸芯片高度集成于一張晶圓上,對測試作業(yè)的潔凈等級、作業(yè)的精細(xì)程度、大數(shù)據(jù)的分析能力等要求較高,因此技術(shù)實力較強的測試廠商通過精益生產(chǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)更好的效益,拉開與其他對手的差距。
  • 芯片成品測試(FT)的技術(shù)難點
    芯片成品測試(FT)的技術(shù)難點主要體現(xiàn)在測試工藝流程、測試方案開發(fā)方面:1、測試工藝流程:大功率成品測試溫度管控要求;數(shù)據(jù)及時監(jiān)控及混料防控;低溫測試溫差與防結(jié)霜控制;靜電防護與控制。2、測試方案開發(fā):測試程序開發(fā)要求多、設(shè)計難度大;測試板方案設(shè)計難度高;超大、超小尺寸產(chǎn)品治具設(shè)計要求。
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    07/11 13:50
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    【測試案例分享】隔離接口芯片失真測試
    背景 隔離是一種電路設(shè)計技術(shù),允許兩個電路進行通信,可消除在它們之間流動的任何不需要的直流電流和交流干擾電流。隔離常用于保護操作人員和低壓電路免受高電壓影響,或防止通信子系統(tǒng)之間的地電位差,或改善系統(tǒng)的抗噪性能。常見的隔離方式包括光耦,磁隔和容隔。 圖 1 隔離芯片是信號鏈中非常重要的一環(huán) 隔離芯片的典型應(yīng)用場景包括:電動汽車 (BMS, OBC, 電驅(qū)等 ),電機控制,工業(yè)自動化,開關(guān)電源,光伏
  • 第三方芯片測試市場將破100億,測試能力與國際同步
    第三方芯片測試市場將破100億,測試能力與國際同步
    據(jù)未來半導(dǎo)體統(tǒng)計,在中國大陸?yīng)毩⒌谌綔y試企業(yè)共超過100家。具有代表性的企業(yè)為上市公司利揚芯片、華嶺股份、偉測科技。其他廠商如欣銓、矽格的大陸子公司以及眾多正在成長期的中小型企業(yè)。他們主要從事第三方集成電路測試服務(wù)企業(yè),主營業(yè)務(wù)包括晶圓測試、芯片成品測試以及與集成電路測試相關(guān)的配套服務(wù)。
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    CP,FT,WAT有什么區(qū)別?
    CP:Chip Probing,在半導(dǎo)體制造結(jié)束后,芯片從晶圓分割并封裝之前,使用探針卡接觸晶圓上的芯片,進行電氣測試以確保它們符合規(guī)格,一般包括vt(閾值電壓),Rdson(導(dǎo)通電阻),BVdss(源漏擊穿電壓),Igss(柵源漏電流),Idss(漏源漏電流)等,不同類別的產(chǎn)品測試的參數(shù)也不同。
  • 多重固件與硬件優(yōu)化,佰維存儲工規(guī)級SSD守護工業(yè)數(shù)據(jù)安全
    多重固件與硬件優(yōu)化,佰維存儲工規(guī)級SSD守護工業(yè)數(shù)據(jù)安全
    在我國加快推動新型工業(yè)化的背景下,新質(zhì)生產(chǎn)力基于高科技、高效能和高質(zhì)量的生產(chǎn)力形態(tài),成為引領(lǐng)工業(yè)領(lǐng)域數(shù)智化轉(zhuǎn)型的核心動能。培育和發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力依賴于對數(shù)據(jù)資源的深度利用與整合,建立堅實的數(shù)據(jù)安全保障機制則是激發(fā)數(shù)據(jù)價值的基礎(chǔ)。 佰維存儲通過自主研發(fā)與技術(shù)創(chuàng)新,為工業(yè)及自動化應(yīng)用提供了一系列工規(guī)級SSD、嵌入式存儲芯片及內(nèi)存模組產(chǎn)品。針對工業(yè)數(shù)據(jù)面臨的各種威脅場景,公司在E2E、AES加密、SRAM
  • 立訊收購Qorvo中國工廠的幕后推手
    立訊收購Qorvo中國工廠的幕后推手
    12月18日,美國射頻(RF)前端芯片制造商Qorvo與立訊精密達(dá)成最終協(xié)議,后者收購Qorvo位于北京和山東德州的所有工廠資產(chǎn),包括土地、廠房、設(shè)備和員工,Qorvo則繼續(xù)保留在中國的銷售、工程和客服業(yè)務(wù)。此并購案預(yù)計于2024上半年完成。
  • 芯片設(shè)計公司為什么要做芯片測試?
    對于芯片設(shè)計公司來說,測試至關(guān)重要,不亞于電路設(shè)計本身。設(shè)計公司主要目標(biāo)是根據(jù)市場需求來進行芯片研發(fā),在整個設(shè)計過程中,需要-直考慮測試相關(guān)的問題,主要有下面幾個原因:1)隨著芯片的復(fù)雜度原來越高, 芯片內(nèi)部的模塊越來越多,制造工藝也是越來越先進,對應(yīng)的失效模式越來越多,而如何能完整有效地測試整個芯片,在設(shè)計過程中需要被考慮的比重越來越多。
  • 芯片測試大講堂——半導(dǎo)體參數(shù)測試與避坑指南
    芯片測試大講堂——半導(dǎo)體參數(shù)測試與避坑指南
    本期我們來聊聊半導(dǎo)體參數(shù)測試。內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測試原理,參數(shù)測試面臨的挑戰(zhàn)與實測避坑指南。半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ),其性能的好壞、穩(wěn)定性的高低直接影響到電子設(shè)備的性能和可靠性。從最籠統(tǒng)的角度說,我們可以利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀對半導(dǎo)體器件進行IV參數(shù)測試,即電壓和電流關(guān)系的測試,也可以延展到CV參數(shù)測試即電容相關(guān)的測試。
  • 測試探針國產(chǎn)化,道阻且長
    芯片測試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié),主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實現(xiàn)設(shè)計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo),以此判斷芯片性能是否符合標(biāo)準(zhǔn),是否可以進入市場。
  • 交付到您前,芯片經(jīng)過的百般刁難
    交付到您前,芯片經(jīng)過的百般刁難
    你知道嗎?你手上的芯片,被扎過針,被電擊,可能還被高低溫烘烤冷凍;每一顆交付到您手上,經(jīng)過了嚴(yán)格的測試篩選,尤其車規(guī)芯片,整體的測試覆蓋項和卡控指標(biāo)更加嚴(yán)格。今天,和大家介紹下最常見,最核心的CP測試和FT測試
  • 芯片測試大講堂——Type-C新技術(shù)與接口芯片
    芯片測試大講堂——Type-C新技術(shù)與接口芯片
    本期,我們來聊聊基于消費類接口芯片Type-C,以及支持Type-C的技術(shù)規(guī)范USB和DisplayPort技術(shù),內(nèi)容涉及市場趨勢,標(biāo)準(zhǔn)演進,設(shè)計與測試面臨的挑戰(zhàn)以及是德科技的解決方案等。
  • 紫光國微布局芯片測試,捷準(zhǔn)芯測乘東風(fēng)起飛
    近年來,在技術(shù)變革、國際環(huán)境與國內(nèi)政策等因素的共同催化下,中國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展進入黃金期,保持快速平穩(wěn)增長態(tài)勢。當(dāng)前,在我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中,封測行業(yè)是發(fā)展成效最顯著、發(fā)展速度最快,也是優(yōu)勢最為突出、國內(nèi)與國外差距最小的一環(huán)。據(jù)中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會數(shù)據(jù)預(yù)計,2022年中國封測產(chǎn)業(yè)市場規(guī)模將達(dá)2985億元,其增速持續(xù)領(lǐng)先全球。 隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的深入發(fā)展,芯片測試顯現(xiàn)出新的需求。芯片種類越來越豐富,每個企

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