多重固件與硬件優(yōu)化，佰維存儲工規(guī)級SSD守護工業(yè)數(shù)據(jù)安全

在我國加快推動新型工業(yè)化的背景下,新質(zhì)生產(chǎn)力基于高科技、高效能和高質(zhì)量的生產(chǎn)力形態(tài),成為引領(lǐng)工業(yè)領(lǐng)域數(shù)智化轉(zhuǎn)型的核心動能。培育和發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力依賴于對數(shù)據(jù)資源的深度利用與整合,建立堅實的數(shù)據(jù)安全保障機制則是激發(fā)數(shù)據(jù)價值的基礎(chǔ)。

佰維存儲通過自主研發(fā)與技術(shù)創(chuàng)新,為工業(yè)及自動化應(yīng)用提供了一系列工規(guī)級SSD、嵌入式存儲芯片及內(nèi)存模組產(chǎn)品。針對工業(yè)數(shù)據(jù)面臨的各種威脅場景,公司在E2E、AES加密、SRAM ECC、S.M.A.R.T. 等方面進行了產(chǎn)品固件與硬件的多重優(yōu)化,為保障工業(yè)數(shù)據(jù)安全筑起堅固防線。

端到端的數(shù)據(jù)保護,保障數(shù)據(jù)一致性

靜默數(shù)據(jù)錯誤是固態(tài)硬盤(SSD)在數(shù)據(jù)存儲和傳輸過程中未能被常規(guī)錯誤檢測機制發(fā)現(xiàn)的數(shù)據(jù)損壞或變異,如電荷保持力下降導(dǎo)致的比特翻轉(zhuǎn),高溫造成的數(shù)據(jù)丟失,具有原始的比特錯誤率。在工業(yè)應(yīng)用場景下,靜默數(shù)據(jù)錯誤可能引發(fā)數(shù)據(jù)不一致、系統(tǒng)崩潰或關(guān)鍵業(yè)務(wù)中

斷,對依賴精確數(shù)據(jù)指令運作的自動化生產(chǎn)線、醫(yī)療診斷以及企業(yè)數(shù)據(jù)中心產(chǎn)生極大的負(fù)面影響。

佰維存儲針對寫入密集型場景,開啟端到端的數(shù)據(jù)保護(E2E),內(nèi)置校驗機制提升SSD數(shù)據(jù)可靠性。在寫入閃存時,生成校驗碼與用戶數(shù)據(jù)一同存儲;讀取時則利用校驗碼核驗數(shù)據(jù)完整性,以檢測并防止存儲與傳輸過程中的隱蔽性靜默錯誤,保障數(shù)據(jù)在SSD內(nèi)的輸入端與輸出端之間完整流轉(zhuǎn),增強整體數(shù)據(jù)的一致性。

AES硬件加密+物理銷毀技術(shù),防止數(shù)據(jù)外泄

在工業(yè)數(shù)字化升級的過程中,尤其是能源、制造等行業(yè),大量涉及核心生產(chǎn)技術(shù)、產(chǎn)品信息、商業(yè)機密甚至用戶隱私的高價值數(shù)據(jù)頻繁“出入”或存儲在固態(tài)硬盤(SSD)中。然而,隨著工業(yè)互聯(lián)程度的提升,數(shù)據(jù)泄露風(fēng)險劇增,可能會遭遇未經(jīng)授權(quán)的訪問、數(shù)據(jù)竊取、篡改等外來威脅。

對此,佰維存儲通過AES(Advanced Encrypytion Standard)硬件加密技術(shù),在數(shù)據(jù)寫入SSD前加密數(shù)據(jù),并在讀取數(shù)據(jù)前解密數(shù)據(jù),相較于軟件加密,硬件級別的AES加密不會降低系統(tǒng)的運行速度和SSD的使用壽命,可有效抵御非法破解,滿足工業(yè)數(shù)據(jù)安全高標(biāo)準(zhǔn)。同時,針對一些機密性的應(yīng)用環(huán)境,BIWIN提供物理銷毀技術(shù),可在指定時刻將硬盤上的機密數(shù)據(jù)徹底銷毀,利用高壓大電流,針對每顆Flash與主控,逐一銷毀。

S.M.A.R.T. +SRAM ECC,數(shù)據(jù)錯誤監(jiān)測與糾正

工業(yè)環(huán)境下的數(shù)據(jù)存儲經(jīng)常需要承受高頻次讀寫、長時間連續(xù)運行以及嚴(yán)苛工作環(huán)境的考驗,可能存在意外磨損、外力沖擊等臨時性突發(fā)狀況。然而,在汽車、企業(yè)數(shù)據(jù)中心等安全關(guān)鍵系統(tǒng)中,數(shù)據(jù)安全的缺失將直接威脅用戶生命安全、企業(yè)核心競爭力。

面對可能由溫度、功率失控等引起的硬件永久性故障或者是電磁干擾等引起的瞬時性軟錯誤,佰維存儲在工業(yè)級SSD產(chǎn)品中內(nèi)嵌S.M.A.R.T. 監(jiān)控系統(tǒng),實時追蹤和分析存儲產(chǎn)品的關(guān)鍵健康指標(biāo)和性能參數(shù),例如硬盤溫度、讀寫錯誤率、剩余壽命預(yù)測等,避免因硬件故障導(dǎo)致的計劃外停機或數(shù)據(jù)損毀,為工業(yè)生產(chǎn)的連續(xù)性提供了保障。

同時,佰維存儲引入SRAM ECC(Error Correction Codes)算法,通過在寫入的原始數(shù)據(jù)周圍添加冗余信息,讀取時對數(shù)據(jù)塊進行解碼,實現(xiàn)對數(shù)據(jù)錯誤的檢測和糾正(錯位數(shù)量在ECC容忍范圍內(nèi)),從而提高數(shù)據(jù)存儲的完整性與可靠性。

全棧芯片測試開發(fā)能力,確保SSD性能穩(wěn)定發(fā)揮

芯片測試是保障存儲產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。佰維存儲擁有覆蓋測試設(shè)備硬件開發(fā)、測試算法開發(fā)以及測試自動化軟件平臺開發(fā)的全棧芯片測試開發(fā)能力,旗下的工規(guī)級存儲產(chǎn)品經(jīng)過高低溫測試、功能測試、硬件測試、性能測試、穩(wěn)定性測試、可靠性測試、兼容性測試等多項嚴(yán)苛測試驗證,表現(xiàn)出卓越的穩(wěn)定性和可靠性。

除了在數(shù)據(jù)存儲、傳輸過程中所實施的多重邏輯性安全防護措施,物理防護更是構(gòu)建數(shù)據(jù)安全體系的基石,佰維存儲針對極端溫度等惡劣作業(yè)環(huán)境推出了G系列工業(yè)級寬溫SSD產(chǎn)品,依托公司在存儲解決方案研發(fā)與先進封測方面的優(yōu)勢,產(chǎn)品具備高性能、高可靠和安全穩(wěn)定等特點,可高效支持電力、軌道交通、5G、智能制造、工業(yè)控制、物聯(lián)網(wǎng)等諸多關(guān)鍵領(lǐng)域的數(shù)據(jù)管理工作。

堅固耐用,無懼惡劣環(huán)境

佰維存儲G系列寬溫SSD采用國產(chǎn)高規(guī)格寬溫閃存顆粒,經(jīng)過了多項嚴(yán)苛測試驗證,支持-40℃～85℃工作溫度,MTBF>300萬小時,確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下無憂運行。

軟硬件優(yōu)化,護航數(shù)據(jù)安全

產(chǎn)品在掉電數(shù)據(jù)保護、數(shù)據(jù)巡檢、E2E、數(shù)據(jù)軟銷毀等方面進行了固件與硬件的多重優(yōu)化,有效保障SSD數(shù)據(jù)傳輸的安全性與可靠性。

全周期服務(wù),長期供貨承諾

公司始終堅持以客戶需求為導(dǎo)向,在北京、西安、成都、上海、深圳等全國重點城市均建有服務(wù)中心,打造了強有力的本地化服務(wù)和市場營銷團隊,可快速響應(yīng)客戶需求,為客戶提供應(yīng)用定制化、實時的FAE技術(shù)支持、長期供應(yīng)保障等本土化服務(wù)。

工規(guī)級存儲市場是公司戰(zhàn)略部署的重點領(lǐng)域,佰維存儲將繼續(xù)加大在工規(guī)存儲領(lǐng)域的資源投入,堅持創(chuàng)新驅(qū)動研發(fā),并將持續(xù)關(guān)注數(shù)據(jù)安全問題,積極開發(fā)并落實數(shù)據(jù)安全相關(guān)的存儲技術(shù)與解決方案,以更加優(yōu)質(zhì)、安全、可靠的存儲產(chǎn)品與解決方案,為千行百業(yè)發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力、提升數(shù)智化水平賦能添翼。