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芯片測試

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芯片測試,設(shè)計初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝,因此,對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求,設(shè)計工程師必須在設(shè)計初期就做出測試規(guī)劃。

芯片測試,設(shè)計初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝,因此,對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求,設(shè)計工程師必須在設(shè)計初期就做出測試規(guī)劃。收起

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    在集成電路(IC)的測試過程中,Trim(微調(diào))是指通過對芯片內(nèi)部某些參數(shù)(如電壓、電流、頻率等)的調(diào)整,使其達到設(shè)計規(guī)格或性能要求的過程。由于現(xiàn)代芯片制造工藝中,隨著尺寸越來越小、集成度越來越高,芯片的各個參數(shù)存在一定的偏差,因此Trim操作能夠提高良率并優(yōu)化芯片性能,確保最終產(chǎn)品滿足高質(zhì)量要求。
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    11/14 14:30
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    測試程序,即被ATE(Automatic Test Equipment,自動測試設(shè)備)識別和執(zhí)行的指令集,是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件(DUT)交互,具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵,如何測量其響應(yīng)信號,以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值(Limit)進行比較,最終判定測試結(jié)果為“通過”(Pass)還是“失效”(Fail)。
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    11/07 09:47
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    談起創(chuàng)業(yè),聚躍檢測創(chuàng)始人尚躍說得最多的,不是公司高壁壘的尖端技術(shù),而是企業(yè)文化和社會責(zé)任。近日,張通社采訪了這位80后創(chuàng)業(yè)者?!拔以趧?chuàng)業(yè)路上遇到了很多貴人,得到了很多幫助,一直心存感恩。如今公司正在蓬勃發(fā)展,我也希望能夠承擔(dān)更多責(zé)任回饋社會?!彼麑T工情同手足,“聚賢納才,躍然而上”是他治理公司的理念;他立志“讓中國沒有難測的芯片”,希望用自己的專業(yè)技術(shù),將“中國芯”打造成“全球芯”。
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    09/02 11:20
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    從測試作業(yè)的精細程度和作業(yè)用人數(shù)量看,晶圓測試(CP)屬于“晶圓級”工藝,數(shù)千顆甚至數(shù)萬顆裸芯片高度集成于一張晶圓上,對測試作業(yè)的潔凈等級、作業(yè)的精細程度、大數(shù)據(jù)的分析能力等要求較高,因此技術(shù)實力較強的測試廠商通過精益生產(chǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)更好的效益,拉開與其他對手的差距。
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    芯片成品測試(FT)的技術(shù)難點主要體現(xiàn)在測試工藝流程、測試方案開發(fā)方面:1、測試工藝流程:大功率成品測試溫度管控要求;數(shù)據(jù)及時監(jiān)控及混料防控;低溫測試溫差與防結(jié)霜控制;靜電防護與控制。2、測試方案開發(fā):測試程序開發(fā)要求多、設(shè)計難度大;測試板方案設(shè)計難度高;超大、超小尺寸產(chǎn)品治具設(shè)計要求。
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  • 多重固件與硬件優(yōu)化,佰維存儲工規(guī)級SSD守護工業(yè)數(shù)據(jù)安全
    多重固件與硬件優(yōu)化,佰維存儲工規(guī)級SSD守護工業(yè)數(shù)據(jù)安全
    在我國加快推動新型工業(yè)化的背景下,新質(zhì)生產(chǎn)力基于高科技、高效能和高質(zhì)量的生產(chǎn)力形態(tài),成為引領(lǐng)工業(yè)領(lǐng)域數(shù)智化轉(zhuǎn)型的核心動能。培育和發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力依賴于對數(shù)據(jù)資源的深度利用與整合,建立堅實的數(shù)據(jù)安全保障機制則是激發(fā)數(shù)據(jù)價值的基礎(chǔ)。 佰維存儲通過自主研發(fā)與技術(shù)創(chuàng)新,為工業(yè)及自動化應(yīng)用提供了一系列工規(guī)級SSD、嵌入式存儲芯片及內(nèi)存模組產(chǎn)品。針對工業(yè)數(shù)據(jù)面臨的各種威脅場景,公司在E2E、AES加密、SRAM

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