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  • 正文
    • 一、硅材料的基礎(chǔ)知識
    • 二、直拉法(Czochralski,CZ)工藝
    • 三、區(qū)熔法(Float-Zone,F(xiàn)Z)工藝
    • 四、兩種工藝的比較
    • 五、總結(jié)
  • 相關(guān)推薦
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晶圓材料的生產(chǎn)工藝比較

10/08 10:00
1973
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硅片是現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)的核心材料,廣泛應(yīng)用于集成電路、太陽能電池MEMS等領(lǐng)域。硅片(wafer)的生產(chǎn)工藝對其質(zhì)量、性能和后續(xù)的應(yīng)用至關(guān)重要。硅基集成電路工藝中,硅片的純度、摻雜濃度、晶體結(jié)構(gòu)等參數(shù)會直接影響到器件的性能。在硅片生產(chǎn)中,最常用的兩種工藝是直拉法(Czochralski,簡稱CZ法)和區(qū)熔法(Float-Zone,簡稱FZ法)。

一、硅材料的基礎(chǔ)知識

在討論硅片生產(chǎn)工藝之前,我們先了解一下硅材料的基本特性。硅是半導(dǎo)體工業(yè)中最常用的材料,因?yàn)樗哂幸韵聝?yōu)點(diǎn):

良好的電子性質(zhì):硅具有合適的能帶寬度(約1.1 eV),在常溫下表現(xiàn)出良好的半導(dǎo)體特性。

豐富的資源:硅是地殼中第二豐富的元素,易于獲取且成本低。硅是從沙子中提煉出來的。

良好的熱穩(wěn)定性:硅的熔點(diǎn)高(約1414℃),能夠在高溫環(huán)境下工作而不變性。

氧化層優(yōu)勢:硅表面可以形成一層致密的二氧化硅(SiO2)薄膜,起到絕緣保護(hù)作用,非常適合制造MOSFET等器件。

由于這些優(yōu)點(diǎn),硅成為了集成電路(IC)和其他微電子器件的主要材料。

二、直拉法(Czochralski,CZ)工藝

1. 工藝簡介

直拉法是一種通過將多晶硅在高溫下熔化,并用種晶拉制單晶硅的工藝。它由波蘭科學(xué)家簡·直拉爾斯基在1916年發(fā)明。直拉法是目前工業(yè)上生產(chǎn)硅片最常用的工藝之一,主要用于大規(guī)模生產(chǎn)硅片,特別是用于集成電路制造的大尺寸硅片。

圖:(a)?直拉法工藝和?(b) 區(qū)熔法工藝

2. 工藝步驟

熔化硅料:首先,將高純度的多晶硅放入一個(gè)由石英制成的坩堝中,坩堝被加熱至硅的熔點(diǎn)(約1414℃),多晶硅在此溫度下熔化成液態(tài)硅。

摻雜劑添加:根據(jù)需求,摻雜劑(如硼、磷)在硅熔體中加入,以調(diào)節(jié)單晶硅的導(dǎo)電類型和摻雜濃度。硅片的導(dǎo)電特性取決于所加入的摻雜劑類型和濃度,例如,硼(B)是P型摻雜劑,而磷(P)則是N型摻雜劑。

種晶引入:在液態(tài)硅表面引入一根旋轉(zhuǎn)的種晶棒,種晶是一個(gè)純凈且完美的單晶硅,它的作用是為新生長的硅提供晶體結(jié)構(gòu)的“模板”。種晶的接觸會促使液態(tài)硅開始以與種晶相同的晶體取向固化。

晶體拉制:種晶與液態(tài)硅接觸后,隨著種晶緩慢上升,同時(shí)保持旋轉(zhuǎn),液態(tài)硅逐漸凝固在種晶的下方形成單晶。晶體的直徑由種晶上升的速度和坩堝的溫度梯度控制,通常拉制速度在2到25 cm/h之間。較快的拉制速度會產(chǎn)生較細(xì)的晶體,而較慢的速度則會產(chǎn)生較粗的晶體。

環(huán)境控制:整個(gè)拉制過程在一個(gè)受控的惰性氣體環(huán)境中進(jìn)行(如氬氣),以避免硅與空氣中的氧發(fā)生反應(yīng)生成二氧化硅,同時(shí)減少其他雜質(zhì)的污染。

3. 優(yōu)點(diǎn)

大尺寸晶體:直拉法能夠生產(chǎn)出較大的單晶硅棒,直徑可以達(dá)到300mm甚至更大,非常適合大規(guī)模集成電路生產(chǎn)。

成本較低:與其他方法相比,直拉法由于工藝相對簡單,且可以使用較大體積的硅料,生產(chǎn)成本較低。

廣泛應(yīng)用:直拉法硅片廣泛應(yīng)用于各種電子器件制造,如集成電路、太陽能電池等。

4. 缺點(diǎn)

氧和其他雜質(zhì)含量較高:由于坩堝和熔體的接觸,硅晶體容易受到氧雜質(zhì)的污染,這些氧原子會在硅晶體中形成氧沉淀,影響硅片的機(jī)械和電氣性能。

摻雜不均勻性:在拉制過程中,摻雜劑在液態(tài)硅和固態(tài)硅中的溶解度不同,導(dǎo)致?lián)诫s劑在晶體中的分布不均勻。這種現(xiàn)象被稱為熔體分凝(segregation)。

三、區(qū)熔法(Float-Zone,F(xiàn)Z)工藝

1. 工藝簡介

區(qū)熔法是另一種生產(chǎn)高純度單晶硅的工藝,由亨利·波爾(Henry Theuerer)在1950年代發(fā)明。與直拉法不同,區(qū)熔法不需要將整個(gè)多晶硅熔化,而是只加熱小部分硅區(qū),通過熔化和再結(jié)晶的方式將多晶硅轉(zhuǎn)化為單晶硅。區(qū)熔法主要用于需要極高純度的硅片,如高性能功率器件和高頻器件。

2. 工藝步驟

多晶硅棒制備:首先,將多晶硅加工成一定尺寸的圓柱形硅棒。

種晶引入:在多晶硅棒的一,接觸一個(gè)種晶這個(gè)種晶與直拉法中的種晶類似,用來單晶的生長提供體結(jié)構(gòu)。

熱區(qū)移動:在多晶硅棒的下方感應(yīng)加熱器或其他加熱手段,僅熔化一小部分多晶硅區(qū)域,形成一個(gè)熔區(qū)。隨著加熱區(qū)域緩慢向上移動,熔化的多晶硅在冷卻后重新結(jié)晶,并轉(zhuǎn)變?yōu)榫ЫY(jié)構(gòu)。

摻雜控制:摻雜(如磷或硼)可以通過向周圍的惰性氣體中引入摻雜氣體(如硼烷、磷烷)來控制。這種方式能精確調(diào)控硅棒的摻雜濃度。

3. 優(yōu)點(diǎn)

超高純度:區(qū)熔法硅片由于沒有與坩堝接觸,因此不容易被氧和其他雜質(zhì)污染,能夠生產(chǎn)出非常高純度的硅晶體,適合制作對雜質(zhì)敏感的功率器件和高頻器件。

摻雜均勻性好:由于區(qū)熔法只熔化一小部分硅,且加熱區(qū)域在移動過程中會將雜質(zhì)推向硅棒的一端,因此可以更好地控制摻雜劑的分布,摻雜濃度更加均勻。

低氧含量:由于整個(gè)過程避免了硅與石英坩堝的接觸,區(qū)熔法硅片的氧含量遠(yuǎn)低于直拉法硅片,適合一些對氧含量要求嚴(yán)格的應(yīng)用。

4. 缺點(diǎn)

晶體尺寸受限:由于區(qū)熔法需要對硅棒進(jìn)行局部加熱,生產(chǎn)過程中硅棒的直徑較小,通常不超過200 mm。這使得區(qū)熔法不適合大規(guī)模集成電路生產(chǎn),而更適合高性能功率器件和特定應(yīng)用。

成本較高:區(qū)熔法工藝復(fù)雜,且生產(chǎn)速度較慢,導(dǎo)致其成本高于直拉法。因此,盡管它在一些高端應(yīng)用中有其優(yōu)勢,但在大規(guī)模生產(chǎn)中不具備經(jīng)濟(jì)優(yōu)勢。

四、兩種工藝的比較

五、總結(jié)

直拉法(CZ)和區(qū)熔法(FZ)是硅片生產(chǎn)的兩種主要工藝,二者各有優(yōu)缺點(diǎn)。直拉法適用于大規(guī)模集成電路的生產(chǎn),能夠提供較大尺寸的硅片,且生產(chǎn)成本較低;但其晶體中含有較高的氧雜質(zhì),摻雜均勻性較差。而區(qū)熔法則能夠提供超高純度的硅晶體,摻雜均勻性好,適用于對純度和摻雜要求極高的應(yīng)用場景,如功率器件和高頻器件,但由于工藝復(fù)雜,成本較高,晶體尺寸較小。

在實(shí)際應(yīng)用中,工程師會根據(jù)具體的需求和經(jīng)濟(jì)考慮,選擇合適的硅片生產(chǎn)工藝。例如,若要求硅片的純度和電學(xué)性能極高,且不考慮成本因素,可以選擇區(qū)熔法;而若需要大尺寸硅片且經(jīng)濟(jì)性要求較高,則直拉法是更為合適的選擇。

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