ZESTRON受邀做客IPC“可靠性之路”系列講座

Helmut Schweigart博士受邀參加IPC“可靠性之路”系列講座之《高壓-電動(dòng)汽車電子硬件可靠性》網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)。IPC“可靠性之路”系列講座旨在將行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者聚集在一起，討論實(shí)現(xiàn)新興電動(dòng)汽車技術(shù)的可靠性障礙。Helmut博士與來(lái)自Danfoss-Semikron的Michael Schleicher和來(lái)自Reliability Assessment Solutions Inc.的Bob Neves一同討論與高壓系統(tǒng)相關(guān)的基本主題，包括高壓絕緣、腐蝕、失效模式和可靠性測(cè)試等。

會(huì)上，Helmut博士介紹了他如何看待更高電壓帶來(lái)的挑戰(zhàn)，講解了在高壓環(huán)境中由ECM（電化學(xué)遷移）、漏電流引起的損壞機(jī)制發(fā)生的更加頻繁，而更高壓也會(huì)引起的新難題，如AMP（陽(yáng)極遷移現(xiàn)象）。他還分享了在60V以內(nèi)電壓范圍內(nèi)業(yè)內(nèi)有豐富的知識(shí)經(jīng)驗(yàn)支持，到了400V，1200V應(yīng)用，從業(yè)者正在冒險(xiǎn)進(jìn)入未知領(lǐng)域。在專家小組討論環(huán)節(jié)，Helmut博士對(duì)暴露于潮濕的開放式電子設(shè)備中存在的灰塵顆粒如何從惰性轉(zhuǎn)變?yōu)閷?dǎo)電性做了有趣說(shuō)明。針對(duì)封閉的系統(tǒng)并不能免于水分的影響，他還闡釋隨著時(shí)間的推移，潮濕環(huán)境中的灌封材料在高壓供電反復(fù)作用下時(shí)將面臨的多種失效風(fēng)險(xiǎn)。

Helmut博士自ZESTRON歐洲公司成立以來(lái)一直在ZESTRON歐洲工作，現(xiàn)領(lǐng)導(dǎo)R&S（可靠性與表面技術(shù)）團(tuán)隊(duì)。他還是GfKORR（德國(guó)防腐蝕學(xué)會(huì)）的理事會(huì)成員，也是GUS（環(huán)境模擬學(xué)會(huì)）和IPC的活躍成員。Helmut博士曾發(fā)表多篇關(guān)于電化學(xué)遷移、涂覆層測(cè)試、潮濕可靠性的技術(shù)文章。

ZESTRON全球可靠性與表面技術(shù)團(tuán)隊(duì)，由表面分析、材料科學(xué)、應(yīng)力測(cè)試和電子制造領(lǐng)域經(jīng)驗(yàn)豐富的專家組成。多年來(lái)，一直為世界各地的客戶提供有關(guān)汽車、醫(yī)療、工業(yè)、消費(fèi)電子和航空等領(lǐng)域電子零部件的潮濕防護(hù)和表面及界面相關(guān)技術(shù)問(wèn)題的支持。ZESTRON在提高電子零部件及整機(jī)可靠性領(lǐng)域?yàn)樾袠I(yè)客戶提供高價(jià)值的分析服務(wù)和咨詢、培訓(xùn)及輔導(dǎo)。從設(shè)計(jì)階段到量產(chǎn)開始，再到大批量的現(xiàn)場(chǎng)使用，R&S專家不僅評(píng)估失效風(fēng)險(xiǎn)和預(yù)防措施，而且還從機(jī)理和根本原因?qū)用娣治鲵?yàn)證試驗(yàn)中的失效和現(xiàn)場(chǎng)的損壞。

此外，ZESTRON積極參與國(guó)內(nèi)和國(guó)際的行業(yè)項(xiàng)目和研究，確保長(zhǎng)期穩(wěn)固的知識(shí)發(fā)展，與行業(yè)協(xié)會(huì)、研究機(jī)構(gòu)保持良好的伙伴關(guān)系。這些經(jīng)驗(yàn)和資源將有助于幫助客戶應(yīng)對(duì)提升電子可靠性的挑戰(zhàn)。