介紹
在汽車微控制器的測(cè)試過程中,有必要在關(guān)鍵條件下檢查整個(gè)系統(tǒng)和應(yīng)用程序的穩(wěn)定性和穩(wěn)健性。舉了一個(gè)例子,當(dāng)功率下降然后連續(xù)上升時(shí)。這可以模擬電池系統(tǒng)的問題。
本技術(shù)說明的目的是展示如何在開發(fā)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中設(shè)置此類測(cè)試場(chǎng)景。
在本實(shí)驗(yàn)中,被測(cè)設(shè)備(DUT)是SPC584Cx/SPC58ECx發(fā)現(xiàn)板,預(yù)計(jì)存儲(chǔ)在FLASH中的應(yīng)用程序?qū)⒃跀嚯姾屯娭芷趦?nèi)啟動(dòng)而不會(huì)出現(xiàn)故障。