引言
射頻設(shè)備的性能可能受到不完全匹配天線的反射、天線環(huán)境中物體引起的反射以及定向設(shè)備的缺陷的影響。這些影響導(dǎo)致傳輸?shù)?a class="article-link" target="_blank" href="/baike/1552646.html">載波信號泄漏到RX混頻器輸入:相對較強(qiáng)的傳輸信號的噪聲被解調(diào),增加了接收的本底噪聲,從而增加了誤差概率。在最嚴(yán)重的情況下,可能會使輸入混頻器過載。
主機(jī)系統(tǒng)(MCU)可以通過內(nèi)置在ST25RU3993器件中的內(nèi)部ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)觸發(fā)射頻輸入電平的測量來檢測由于反射發(fā)射載波功率引起的RX混頻器過載。
存在于兩個(gè)RX混頻器輸入上的反射載波信號直接向下轉(zhuǎn)換為正比的、依賴于輸入相位的零頻率(DC)電平。內(nèi)部RX混頻器上的兩個(gè)直流電平是對反射載波電平的測量。
ST25RU3993數(shù)據(jù)表可在www.st.com上獲得,可作為參考對于本文檔。