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聊聊光刻機(jī)的原理、現(xiàn)狀與未來

09/18 10:30
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光刻機(jī)半導(dǎo)體制造過程中的關(guān)鍵設(shè)備,相當(dāng)于芯片制造工藝的“印刷機(jī)”,它的精度直接影響芯片的制程和性能。

根據(jù)不同光源類型,光刻機(jī)可以分為UV(紫外線)、DUV(深紫外線)和EUV(極紫外線)三大類。光刻機(jī)的分辨率主要由兩個(gè)參數(shù)決定:光源的波長(λ)和物鏡系統(tǒng)的數(shù)值孔徑(NA)。簡單來說,波長越短、數(shù)值孔徑越大,光刻機(jī)的分辨率就越高。

1、光刻機(jī)的核心原理:瑞利判據(jù)

光刻機(jī)的分辨率,即能在芯片上實(shí)現(xiàn)的最小特征尺寸,可以用瑞利判據(jù)(Rayleigh criterion)來表示:?CD =k1*λ/NA

在這個(gè)公式中:

CD 是線寬,即可以實(shí)現(xiàn)的最小特征尺寸。

λ 是光刻機(jī)光源的波長。

NA 是物鏡的數(shù)值孔徑,代表鏡頭收集光的能力。

k? 是一個(gè)與芯片制造工藝相關(guān)的系數(shù),目前最先進(jìn)的工藝可以將 k? 降到 0.25。

為了得到更小的線寬,半導(dǎo)體制造商會(huì)采用更短波長的光源(λ),使用更大數(shù)值孔徑的物鏡(NA),并盡力降低 k?。

2、不同類型光刻機(jī)的區(qū)別

UV和DUV光刻機(jī):UV光刻機(jī)使用的是波長較長的光源,如365nm的i線,而DUV光刻機(jī)采用波長193nm的氟化氬(ArF)激光或248nm的氟化氪(KrF)激光。因?yàn)椴ㄩL較短,所以DUV光刻機(jī)的分辨率比UV光刻機(jī)高得多。DUV光刻機(jī)按照光路介質(zhì)的不同,可以分為干式(Dry)和浸沒式(Immersion,縮寫為ArFi)。

EUV光刻機(jī):EUV光刻機(jī)使用波長為13.5nm的極紫外線光源,這是目前最先進(jìn)的光刻技術(shù)。由于波長極短,EUV光刻機(jī)可以實(shí)現(xiàn)更小的特征尺寸(如7nm、5nm甚至更小的制程節(jié)點(diǎn))。EUV光刻機(jī)的光源和物鏡系統(tǒng)都極為復(fù)雜,制造難度和成本也非常高。

3、浸沒式光刻機(jī)的技術(shù)特點(diǎn)

浸沒式光刻機(jī)(ArFi)通過將物鏡與晶圓之間的空氣介質(zhì)替換為水,使光線在進(jìn)入晶圓時(shí)的波長縮短,提高分辨率。水的折射率為1.44,而空氣的折射率為1。由于折射率的增加,193nm的ArF激光等效縮短為約134nm,提高了光刻的精度。

然而,浸沒式光刻機(jī)的物鏡數(shù)值孔徑NA必須提高到一個(gè)更高的水平。當(dāng)前國際主流的ArFi光刻機(jī)NA值可以達(dá)到1.35,而浸沒式的國產(chǎn)光刻機(jī)目前的NA值只有1.08。這就意味著在沒有提高物鏡本身NA的情況下,浸沒式光刻機(jī)的分辨率仍然無法與ASML等先進(jìn)廠商的產(chǎn)品相媲美。

4、國產(chǎn)光刻機(jī)的發(fā)展現(xiàn)狀

目前國內(nèi)最先進(jìn)的光刻機(jī)是干式ArF DUV光刻機(jī),其NA值約為0.75,分辨率可以達(dá)到65nm。然而,國際主流的ArF光刻機(jī)NA值早已提升至0.93,能夠達(dá)到更小的特征尺寸。因此,國產(chǎn)光刻機(jī)在技術(shù)指標(biāo)上相對(duì)落后。

5、為了進(jìn)一步提升分辨率,國產(chǎn)光刻機(jī)需要進(jìn)行兩方面的改進(jìn):

提高物鏡系統(tǒng)的NA:國內(nèi)已經(jīng)有科研單位正在攻關(guān)更高數(shù)值孔徑的物鏡系統(tǒng),如北京的一家企業(yè)正在研發(fā)NA為0.85的物鏡,這將有助于提升分辨率。

完善浸沒式系統(tǒng):浸沒式光刻機(jī)的關(guān)鍵在于水的使用。為了在物鏡和晶圓之間引入水,需要解決很多復(fù)雜的工程問題,如避免氣泡、控制水流均勻性和溫度等。ASML的技術(shù)演進(jìn)路線可供參考:

6、如何降低 k? 值

降低 k? 是提高光刻分辨率的另一種途徑。工程師們通過多種技術(shù)來降低 k?,包括:

防震動(dòng):在曝光時(shí)減少晶圓和光罩的相對(duì)震動(dòng),使曝光圖形更加精確。

減少無用反射:消除曝光時(shí)產(chǎn)生的不需要的反射,增加圖像的清晰度。

雙光束成像:包括偏軸式曝光(OAI)和移相光罩(PSM)兩種方法,通過干涉成像提高分辨率。

多重曝光(Multi-patterning):通過多次曝光,將密集的圖案分解到多個(gè)寬松的光罩上,輪流曝光以提高分辨率。

雖然這些技術(shù)能夠有效降低 k?,但是它們的實(shí)現(xiàn)難度較大,對(duì)光刻機(jī)的套刻精度要求極高。目前國產(chǎn)ArF光刻機(jī)的套刻精度為8nm,尚不足以支持多重曝光的實(shí)現(xiàn),這也是國產(chǎn)光刻機(jī)目前無法進(jìn)一步提升分辨率的主要限制。

7、光刻機(jī)產(chǎn)業(yè)的挑戰(zhàn)

光刻機(jī)制造是一項(xiàng)高度復(fù)雜的系統(tǒng)工程,包括光源、物鏡、工件臺(tái)、控制系統(tǒng)等多個(gè)部分,每一個(gè)部分都需要極高的精度和技術(shù)積累。光刻機(jī)產(chǎn)業(yè)的復(fù)雜性和高門檻導(dǎo)致目前全球只有少數(shù)幾家公司能夠生產(chǎn)高端光刻機(jī),其中ASML處于絕對(duì)的領(lǐng)先地位。

國產(chǎn)光刻機(jī)起步較晚,在技術(shù)、人才、供應(yīng)鏈等方面與國際領(lǐng)先企業(yè)存在顯著差距。雖然近年來國家投入大量資金支持光刻機(jī)的研發(fā),但光刻機(jī)的研制和產(chǎn)業(yè)化需要長期的技術(shù)積累和工程實(shí)踐,無法一蹴而就。

8、展望與建議

國產(chǎn)光刻機(jī)的未來發(fā)展需要從以下幾個(gè)方面著手:

技術(shù)攻關(guān):繼續(xù)提高物鏡的NA,提高光刻機(jī)的分辨率。同時(shí),完善浸沒式光刻機(jī)的工程化。

產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同:加強(qiáng)與上下游企業(yè)的合作,推動(dòng)光刻機(jī)產(chǎn)業(yè)鏈的完善,提高國產(chǎn)光刻機(jī)的穩(wěn)定性和可靠性。

人才培養(yǎng):培養(yǎng)一批具有國際視野和專業(yè)技能的光刻機(jī)技術(shù)人才,為產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供智力支持。

胡工認(rèn)為,國產(chǎn)光刻機(jī)的發(fā)展任重道遠(yuǎn),但并非沒有希望。在持續(xù)的技術(shù)投入和產(chǎn)業(yè)支持下,國產(chǎn)光刻機(jī)有望逐步縮小與國際領(lǐng)先水平的差距,實(shí)現(xiàn)自主可控的光刻設(shè)備生產(chǎn),為我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

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作者:胡工,北京大學(xué)微電子本碩,北京大學(xué)半導(dǎo)體校友會(huì)成員,在半導(dǎo)體行業(yè)工作多年,常駐深圳。歡迎交流,備注姓名+公司+崗位。

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