加入星計(jì)劃，您可以享受以下權(quán)益：

  • 創(chuàng)作內(nèi)容快速變現(xiàn)
  • 行業(yè)影響力擴(kuò)散
  • 作品版權(quán)保護(hù)
  • 300W+ 專業(yè)用戶
  • 1.5W+ 優(yōu)質(zhì)創(chuàng)作者
  • 5000+ 長期合作伙伴
立即加入

芯片測試

加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

芯片測試，設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此，對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求，設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測試規(guī)劃。

芯片測試，設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此，對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求，設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測試規(guī)劃。收起

查看更多
  • 芯片測試中的Trim（微調(diào)）
    芯片測試中的Trim（微調(diào)）
    在集成電路(IC)的測試過程中，Trim（微調(diào)）是指通過對芯片內(nèi)部某些參數(shù)（如電壓、電流、頻率等）的調(diào)整，使其達(dá)到設(shè)計(jì)規(guī)格或性能要求的過程。由于現(xiàn)代芯片制造工藝中，隨著尺寸越來越小、集成度越來越高，芯片的各個參數(shù)存在一定的偏差，因此Trim操作能夠提高良率并優(yōu)化芯片性能，確保最終產(chǎn)品滿足高質(zhì)量要求。
    4372
    11/14 14:30
  • 模擬器件測試概述、測試機(jī)組成及發(fā)展趨勢
    模擬器件測試概述、測試機(jī)組成及發(fā)展趨勢
    器件的測試在集成電路（IC）行業(yè)中扮演著極其關(guān)鍵的角色。它需要非常精確地生成和測量電信號，尤其是微伏（μV）級電壓和納安（nA級電流。由于模擬器件相較于數(shù)字電路對信號波動更加敏感，因此，測試的精確度要求更高。
  • 如何理解芯片測試中的DUT？
    如何理解芯片測試中的DUT？
    理解并深入掌握DUT（Device Under Test，被測器件）在集成電路測試中的概念是非常關(guān)鍵的，因?yàn)镈UT是整個測試過程中直接與ATE（自動化測試設(shè)備）交互的對象。
  • 芯片測試程序
    芯片測試程序
    測試程序，即被ATE（Automatic Test Equipment，自動測試設(shè)備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件（DUT）交互，具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵，如何測量其響應(yīng)信號，以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值（Limit）進(jìn)行比較，最終判定測試結(jié)果為“通過”（Pass）還是“失效”（Fail）。
    1568
    11/07 09:47
  • Mbist仿真初探
    Mbist仿真初探
    Mbist 方法是目前大容量存儲器測試的主流技術(shù)，該技術(shù)利用芯片內(nèi)部專門設(shè)計(jì)的BIST 電路進(jìn)行自動化測試，能夠?qū)η度胧酱鎯ζ鬟@種具有復(fù)雜電路結(jié)構(gòu)的嵌入式模塊進(jìn)行全面的測試。MBIST 電路將產(chǎn)生測試向量的電路模塊以及檢測測試結(jié)果的比較模塊都置于芯片的內(nèi)部，在測試完成后，將測試的結(jié)果通過芯片的測試引腳送出到芯片的外部。