一般情況下,功率半導(dǎo)體器件的整體可靠性用圖1所示的“浴盆”曲線表示。設(shè)備的磨損階段與應(yīng)用中運(yùn)行負(fù)載條件下物理損傷的一般積累有關(guān)。設(shè)備性能的主要變化與機(jī)械磨損有關(guān),這是由于外殼中組件的熱膨脹系數(shù)的差異造成的。由于零件的膨脹和收縮,模具表面可以顯示出明顯的“擦洗”。如圖2-4所示,擦洗可能導(dǎo)致在這些組分界面處形成金屬間化合物。然后,積聚會導(dǎo)致導(dǎo)通狀態(tài)、VT或正向電壓、VF特性的變化,以及長時(shí)間內(nèi)結(jié)漏電流的變化。