數(shù)碼相機(jī) EMC 輻射發(fā)射整改案例
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數(shù)碼相機(jī)又稱(chēng)數(shù)位相機(jī),是一種利用電子感測(cè)器把光學(xué)影像轉(zhuǎn)換成電子數(shù)據(jù)的照相機(jī),有別于傳統(tǒng)照相機(jī)通過(guò)光線(xiàn)引起底片上的化學(xué)變化來(lái)記錄圖像?!笖?shù)碼」一詞原本是英文 Digital 的港式翻譯,后來(lái)傳入大陸,而中國(guó)臺(tái)灣則使用「數(shù)位」。
EMC 問(wèn)題描述
此款數(shù)碼相機(jī)對(duì)外有一個(gè) USB 接口與電腦相連,產(chǎn)品為塑膠外殼,單板為雙面板,在與 PC 通訊的情況下輻射發(fā)射測(cè)試 EN55022CLASSB 標(biāo)準(zhǔn)不能夠通過(guò)。
整改前的測(cè)試數(shù)據(jù)
整改后的測(cè)試數(shù)據(jù)
EMC 整改方案
要解決這款數(shù)碼相機(jī)的輻射發(fā)射超標(biāo)的問(wèn)題,單單從改善電纜的屏蔽和增加磁環(huán)并不能夠完全解決問(wèn)題,還必須要配合 PCB 單板進(jìn)行整體對(duì)高頻增加 330pF 的濾波小電容才能夠解決問(wèn)題,最后最終需要采用的整改方案措施如下:
一方面,按照現(xiàn)場(chǎng)以及上面分析結(jié)果,USB 電纜需要進(jìn)行如下措施整改:
1、 USB 電纜的需要采用編織屏蔽電纜;
2、 注意在 USB 電纜接口處屏蔽層與 USB 接口搭接;
3、 電纜的靠近數(shù)碼相機(jī)側(cè)增加磁環(huán);
另一方面,從現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,單板本身對(duì)高頻幾個(gè)超標(biāo)頻點(diǎn)影響比較大,具體整改措施如下:
1、 USB 電源接口的 5V 電源串磁珠,對(duì)外殼增加 1000pF 電容;
2、 單板上目前 0.1uF 的電容兩側(cè)都增加 330pF 的電容,進(jìn)行高頻濾波;
——本案例來(lái)源于深圳市阿賽姆科技有限公司(https://emc.asim-emc.com/)
EMC 寄語(yǔ):隨著時(shí)代的發(fā)展,越來(lái)越多的電子、電氣設(shè)備或系統(tǒng)產(chǎn)品都需要進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè),其中 EMC 測(cè)試是必備的檢驗(yàn)檢測(cè)指標(biāo)之一。但 EMC 測(cè)試項(xiàng)目費(fèi)用較貴,EMC 實(shí)驗(yàn)室造價(jià)昂貴,絕大部分測(cè)量設(shè)備又需要采用進(jìn)口設(shè)備,導(dǎo)致很少檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)有能力建造 EMC 實(shí)驗(yàn)室。產(chǎn)品的 EMC 性能是設(shè)計(jì)階段賦予的,一般電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)如果不考慮 EMC 因素,就會(huì)很容易導(dǎo)致 EMC 測(cè)試失敗,以致不能通過(guò)相關(guān) EMC 法規(guī)的測(cè)試或認(rèn)證。例如,產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)工程師們根據(jù)需求,設(shè)計(jì)出效果良好的濾波電路,置入產(chǎn)品 I/O(輸入 / 輸出)接口的前級(jí),可使因傳導(dǎo)而進(jìn)入系統(tǒng)的干擾噪聲消除在電路系統(tǒng)的入口處;設(shè)計(jì)出隔離電路(如變壓器隔離和光電隔離等)解決通過(guò)電源線(xiàn)、信號(hào)線(xiàn)和地線(xiàn)進(jìn)入電路的傳導(dǎo)干擾,同時(shí)阻止因公共阻抗、長(zhǎng)線(xiàn)傳輸而引起的干擾;設(shè)計(jì)出能量吸收回路,從而減少電路、器件吸收的噪聲能量;通過(guò)選擇元器件和合理安排的電路系統(tǒng),使干擾的影響減少。