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2016 年中國(guó)消耗的半導(dǎo)體芯片占全球的三分之一，預(yù)計(jì)到 2025 年這個(gè)數(shù)字會(huì)增加到 50%以上，因此國(guó)家提出集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略。隨著國(guó)家的大力支持，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)已經(jīng)逐步從跟隨轉(zhuǎn)向自主研發(fā)，初步形成了從設(shè)計(jì)、晶圓加工、封測(cè)以及應(yīng)用的全套產(chǎn)業(yè)鏈，未來(lái)會(huì)出現(xiàn)走在世界前列的半導(dǎo)體公司，甚至?xí)O(shè)定產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如 5G、物聯(lián)網(wǎng)。
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隨著物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品種類和數(shù)量的增加以及 5G 通信技術(shù)的快速發(fā)展，對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品測(cè)試需求也不斷增加，為了幫助客戶實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試推出兩款系統(tǒng)測(cè)試新產(chǎn)品：T5800 系列存儲(chǔ)器測(cè)試方案和配合 V93000 測(cè)試平臺(tái)的 Wave Scale 測(cè)試板卡，它們可以幫助客戶實(shí)現(xiàn)更高的成本效益，目前在中高端市場(chǎng)做到了全面覆蓋。
圖 1：愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司 VP 夏克金博士
T5830： 讓 Flash 器件測(cè)試成本效益最大化
隨著移動(dòng)智能設(shè)備的普及，人人都變成了數(shù)據(jù)源，在線數(shù)據(jù)呈現(xiàn)爆發(fā)式增長(zhǎng)，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需求越來(lái)越大，預(yù)計(jì)到 2018 年 Flash 存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的全球市場(chǎng)將達(dá)到 1 億 4800 萬(wàn)美元。如何經(jīng)濟(jì)高效地測(cè)試非易失性存儲(chǔ)器件？這就需要一個(gè)多功能且靈活的測(cè)試平臺(tái)來(lái)確保用戶的投資回報(bào)率，并降低設(shè)備投資風(fēng)險(xiǎn)。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的 T5830 測(cè)試系統(tǒng)同時(shí)具備支持前道晶圓測(cè)試以及后道封裝測(cè)試的能力，非常適合測(cè)試采用標(biāo)準(zhǔn)串行外圍接口協(xié)議(SPI)的 NOR 和 NAND Flash 器件，以及那些管腳數(shù)較少的 Flash 器件諸如智能卡、SIM、EEPROMs、內(nèi)嵌式 Flash 等產(chǎn)品。
圖 2：T5830 存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司 VP 夏克金博士介紹，“T5830 測(cè)試模塊內(nèi)置的可編程電源通道（PPS）的可擴(kuò)展架構(gòu)，為不同管腳數(shù)量的芯片提供了靈活經(jīng)濟(jì)的硬件資源分配組合，還沿用了愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試創(chuàng)新的 Tester-per-Site 的硬件設(shè)計(jì)理念，使每個(gè) Test site 可以獨(dú)立地進(jìn)行測(cè)試程序的操作減少了并行測(cè)試的時(shí)間，降低了綜合測(cè)試成本。T5830 測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試頻率為 400MHz，數(shù)據(jù)傳輸速率為 800Mbps。假設(shè)當(dāng)一個(gè) DUT 配置 4 個(gè)數(shù)字測(cè)試通道時(shí)，T5830 的并行測(cè)試能力最大可以增加到 2304 個(gè) DUT 同測(cè)?！?/p>
Wave Scale 測(cè)試板卡：讓射頻半導(dǎo)體產(chǎn)品測(cè)試更加高效
傳統(tǒng)的射頻測(cè)試解決方案一直沿用多芯片同測(cè)的方式，比如四或八芯片同測(cè)，但是一次僅在芯片內(nèi)對(duì)一種射頻標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試過(guò)程復(fù)雜，工作效率低下。怎樣進(jìn)行多路測(cè)試，盡量簡(jiǎn)化測(cè)試流程？ 愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在 V93000 平臺(tái)上推出了 Wave Scale 系列測(cè)試板卡，可以提高射頻及混合信號(hào)集成電路測(cè)試時(shí)的并行性及產(chǎn)能。
夏克金博士指出，“Wave Scale RF 及相應(yīng)的 Wave Scale MX 測(cè)試板卡能在一個(gè)射頻芯片內(nèi)同時(shí)對(duì)多種標(biāo)準(zhǔn)或者多個(gè)路徑進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)高效的芯片內(nèi)并行及高同測(cè)效率的多芯片并行，能顯著地降低這些復(fù)雜射頻器件的測(cè)試成本。”
圖 3：Wave Scale MX 測(cè)試板卡
圖 4：大量的并行測(cè)試可以顯著降低測(cè)試時(shí)間
Wave Scale RF 板卡在每塊板上擁有四個(gè)獨(dú)立的射頻子系統(tǒng)并帶有獨(dú)立的信號(hào)激勵(lì)及測(cè)量能力，能夠在同一時(shí)間對(duì) LTE、GPS、藍(lán) WLAN 器件進(jìn)行測(cè)試。每個(gè)子系統(tǒng)帶有八個(gè)單獨(dú)的端口，能夠同時(shí)將射頻信號(hào)扇出到最多四個(gè)獨(dú)立的測(cè)量?jī)x器。這能使每個(gè)射頻子系統(tǒng)能夠支持多達(dá)八個(gè)芯片運(yùn)行 RX （接收器) 和 TX （發(fā)射器)的測(cè)試 ，每塊板卡支持多達(dá) 32 個(gè)芯片同時(shí)測(cè)試。Wave Scale RF 板卡的 32 個(gè)射頻端口都能支持最高至 6GHz 的頻率。憑借 200MHz 帶寬及包括提供內(nèi)部回路，嵌入式校準(zhǔn)等在內(nèi)的其他各種特征，其能很好地支持包括未來(lái) 5G 半導(dǎo)體器件在內(nèi)的一系列廣泛的應(yīng)用。
加強(qiáng)中國(guó)區(qū)研發(fā)實(shí)力，更好服務(wù)客戶
近兩年全球半導(dǎo)體市場(chǎng)呈現(xiàn)下滑趨勢(shì)，唯有中國(guó)市場(chǎng)仍然保持二位數(shù)增長(zhǎng)，因此各大國(guó)際半導(dǎo)體廠商都加強(qiáng)了在中國(guó)的布局，以前將中國(guó)部門定位為服務(wù)職能的公司如今也將研發(fā)進(jìn)行了轉(zhuǎn)移。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試市場(chǎng)銷售總經(jīng)理陸樂(lè)介紹，“我們?cè)诶^德國(guó)、日本、美國(guó)之后，又在中國(guó)上海設(shè)置了研發(fā)中心，負(fù)責(zé)部分測(cè)試軟件開(kāi)發(fā)。我們對(duì)中國(guó)團(tuán)隊(duì)的定位不只是做服務(wù)，目前設(shè)計(jì)部分也在向中國(guó)轉(zhuǎn)移，因?yàn)橹袊?guó)市場(chǎng)非常有前景，我們要盡可能滿足中國(guó)客戶的需求?！?/p>
“我們每年都會(huì)拿出營(yíng)收的 20%用于研發(fā)，因此每年都會(huì)向市場(chǎng)推出新的產(chǎn)品。”陸樂(lè)補(bǔ)充。
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