尼得科精密檢測科技將亮相SEMICON Japan 2024

尼得科精密檢測科技株式會社將參展2024年12月11日(周三)～12月13日(周五)于東京國際會展中心舉辦的“SEMICON Japan 2024”（2024日本東京半導(dǎo)體展覽會）。

在本屆展覽會上，尼得科精密檢測科技將展出針對IGBT/SiC功率半導(dǎo)體檢測設(shè)備、EV/HEV等驅(qū)動電機(jī)測試臺以及晶圓檢測夾具“探針卡”等新的解決方案。

同時，還將介紹體現(xiàn)公司核心“測量”理念的半導(dǎo)體封裝基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS系列”以及用于2D/3D測量微小凸點(diǎn)的光學(xué)檢測設(shè)備。

基于公司長期積累的檢測技術(shù)，我們將提供新的檢測解決方案以及為未來做出貢獻(xiàn)的新產(chǎn)品和新技術(shù)。

〈參展概要〉

• 展期：2024年12月11日(周三)～12月13日(周五)
• 地點(diǎn)：東京國際會展中心展示棟
• 展位：2Hall2011
• 官網(wǎng)：https://www.semiconjapan.org/jp/

〈主要參展內(nèi)容〉

• 針對IGBT/SiC模塊的絕緣/靜態(tài)特性/動態(tài)特性檢測設(shè)備“NATS-1000/1700系列”
• EV驅(qū)動電機(jī)測試臺“TDAS系列”
• 晶圓凸點(diǎn)自動檢測系統(tǒng)“RWi系列”
• 半導(dǎo)體封裝基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS系列”
• AC/DC多功能測試儀“R-700系列”
• 半導(dǎo)體Wafer檢測用探針卡
• 超高精度檢測用探針
• KGD測試設(shè)備“NATS-1300系列”
• 功率半導(dǎo)體模塊用動態(tài)可靠性測試設(shè)備“NATS-8000系列”
• 基準(zhǔn)逆變器
• ３D光學(xué)檢測設(shè)備“NSW系列