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吉時利新的2401型數(shù)字源表-業(yè)界最低成本單機SMU

[摘要] 像所有2400系列數(shù)字源表一樣，2401具有精密電壓源和電流源及測量功能（1μV–20V和10pA–1A）。2401既是高度穩(wěn)定的直流電源也是真儀器級的5位半萬用表。其中，電源特性包括低噪聲、高精度和回讀；萬用表的功能包括高可重復性和低噪聲。結果實現(xiàn)了緊湊的單通道直流參數(shù)測試儀。在使用時，2401可以用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表。

資源類型：pdf

資源大?。?/span>685.95KB

所屬分類：微弱信號與源測量

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用2600系列數(shù)字源表進行 IDDQ測試和待機電流測試

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面向偏壓溫度不穩(wěn)定性分析的即時V TH 測量

上傳時間：2012/09/05資源大?。?73.66KB

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基于高吞吐率WLR測試的ACS集成測試系統(tǒng)

上傳時間：2012/09/05資源大?。?.03MB

[摘要]隨著器件繼續(xù)小型化，半導體器件可靠性測試以及器件壽命預測面臨極大挑戰(zhàn)。由于新材料和新工藝的復雜性增大，器件失效的隨機性也在增加。這需要產生更大的統(tǒng)計樣本測試數(shù)據(jù)。雖然傳統(tǒng)的應力-開關-測量可靠性測試技術能實現(xiàn)龐大數(shù)量的器件測試，但這種方法可能存在問題。使用TDDB，工程師需要監(jiān)測軟擊穿和漸進式擊穿。采用NBTI，必須最小化器件弛豫并以極快的速度完成測量。在測試單個器件的層面上，某些問題還是可控的，但在實際時間段內順序測試單個器件不能提供大量的統(tǒng)計樣本數(shù)據(jù)。

用于多站點并行測試的ACS集成測試系統(tǒng)

上傳時間：2012/09/05資源大?。?.09MB

[摘要]測試成本被視為未來先進半導體的首要挑戰(zhàn)。對測試成本和測試系統(tǒng)購置成本影響最大的是測試系統(tǒng)吞吐量。不論什么具體應用，并行測試都最大程度改善了晶圓上測試的吞吐量公式。這是因為大部分開銷用在了移動探針或者將探針重新定位至下一個測試站點。開銷包括了探測器和耗材（例如探針卡）的成本和維護。最重要的是如何最大程度利用這些投入。提高測試儀的吞吐量能顯著降低測試成本，縮短產品面市時間。

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下載資源，填寫完整信息，并注冊成為與非網會員，還有機會獲得30元卓越禮品卡，數(shù)量50張。

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