[摘要]CMOS集成電路（CMOS IC）和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)（或“待機(jī)”）電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測量VDD電源電流。測試的目的是檢查柵氧化層短路及可能隨時(shí)間導(dǎo)致IC失效的其它缺陷。同樣地，帶有雙極晶體管的電池供電產(chǎn)品或其它IC的電源電流也可以在靜態(tài)模式下測量。這些產(chǎn)品類型包括便攜式電池供電的消費(fèi)性電子產(chǎn)品，以及可植入的醫(yī)療設(shè)備，例如心臟起搏器和除顫器。這些測試的目標(biāo)是在給定電池充電

[摘要]隨著面市時(shí)間和測試成本的壓力增大，需要繼續(xù)仔細(xì)檢查工具利用率和測試工程師的生產(chǎn)率。提高自動(dòng)化水平是一種改善資源分配常規(guī)方法。從手動(dòng)探測器的單管芯測試到半自動(dòng)探測器的單晶圓測試的這一過程自然會(huì)通向自動(dòng)探測器的全晶匣檢測。在過去，使用精密、靈活的實(shí)驗(yàn)室工具但不購買BEOL生產(chǎn)測試儀的條件下執(zhí)行此類測試非常困難。這類測試通常包含大量定制代碼和專用測試臺(tái)并且需要訓(xùn)練有素的工程師運(yùn)行設(shè)備。吉時(shí)利有這種方案。通過結(jié)合吉時(shí)利的自動(dòng)特性分析套件（ACS）軟件和4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，您將獲得兩者的優(yōu)點(diǎn)——實(shí)驗(yàn)