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靜電放電 (ESD) 是集成電路 (IC) 設計中最老生常談的可靠性問題之一。當兩個帶電物體之間突然出現(xiàn)意外電流時,就會發(fā)生 ESD 事件。在 IC 中,ESD 通常由電氣短路或介電質(zhì)擊穿引起。ESD 事件總是會對電路造成物理損害,要么導致器件立即失效,要么導致電路出現(xiàn)不太明顯的減損,從而降低器件的總體性能和可靠性。
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