1. Siemens Digital Industries Software原廠資料
  2. 白皮書
  3. 立即下載
通過自動(dòng)插入過孔減少IR 和 EM 問題
[摘要]

IR 壓降和 EM 問題會(huì)大幅減損先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的性能和可靠性。添加過孔是最有效的校正手段，但傳統(tǒng)的自定義腳本不僅困難、耗時(shí)，而且無法保證設(shè)計(jì)即正確的過孔。Calibre YieldEnhancer PowerVia 實(shí)用工具使用制造要求自動(dòng)插入無任何 DRC/LVS 錯(cuò)誤的過孔。結(jié)果顯示，EM/IR 結(jié)果得到顯著改善，包括電流密度違規(guī)大幅減少。
資源類型：pdf
資源大?。?/span>578.62KB
所屬分類：白皮書
Siemens Digital Industries Software簡介
西門子數(shù)字化工業(yè)軟件致力于推動(dòng)數(shù)字化企業(yè)轉(zhuǎn)型，實(shí)現(xiàn)滿足未來需求的工程、制造和電子設(shè)計(jì)。西門子的Xcelerator 解決方案組合可幫助各類規(guī)模的企業(yè)創(chuàng)建并充分利用數(shù)字雙胞胎，為機(jī)構(gòu)帶來全新的洞察、機(jī)遇和自動(dòng)化水平，促進(jìn)創(chuàng)新。

欲了解有關(guān)西門子數(shù)字化工業(yè)軟件的更多詳情，敬請(qǐng)?jiān)L問：

https://www.plm.automation.siemens.com/global/zh/industries/electronics-semiconductors/