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利用 Calibre nmLVS-Recon 技術(shù)加快上市速度：電路驗(yàn)證新范式
[摘要]

有一個(gè)趨勢(shì)非常明顯……流片變得越來越困難，需要的時(shí)間也越來越長。作為日益壯大的創(chuàng)新性早期設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù)套件的一部分，Caliber nmLVS-Recon 工具使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)能夠快速檢查“存在問題”和不成熟的設(shè)計(jì)，以便更快、更早地發(fā)現(xiàn)并修復(fù)具有重大影響的電路錯(cuò)誤，從而在總體上縮短流片排程和上市時(shí)間。
資源類型：pdf
資源大小：971.38KB
所屬分類：白皮書
Siemens Digital Industries Software簡(jiǎn)介
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