由于光子 IC 設(shè)計(jì)人員需要全面掌控其設(shè)計(jì)框架以確保制造的 IC 與其設(shè)計(jì)完全一致，并且需要克服光子電路挑戰(zhàn)，Luceda Photonics 為此創(chuàng)建了 IPKISS.eda 設(shè)計(jì)框架。此框架建立在 Tanner L-Edit 版圖編輯器之上，可與 Tanner Calibre® One 物理驗(yàn)證套件無縫銜接。
本文簡(jiǎn)要介紹了硅光子技術(shù)，說明了其獨(dú)有的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證挑戰(zhàn)，并展示了 Luceda Photonics 如何解決這些挑戰(zhàn)。