兩全其美 – 無折衷的先進(jìn)工藝寄生參數(shù)提取方法
[摘要]

納米設(shè)計(jì)的復(fù)雜性日益增加,加上先進(jìn)制造工藝產(chǎn)生的新影響,給努力實(shí)現(xiàn)流片的設(shè)計(jì)工程師構(gòu)成了雙重威脅。要同時(shí)提供 FinFET 等詳細(xì) 3D 結(jié)構(gòu)必不可少的寄生參數(shù)提取精度,以及實(shí)現(xiàn)全芯片設(shè)計(jì)(在多個(gè)不同布線層上具有成百上千萬個(gè)網(wǎng)絡(luò))快速吞吐量所需的性能,必須結(jié)合使用基于規(guī)則的引擎和場解算器引擎。Calibre(r) xACT(tm) 平臺(tái)提供了基于層的開創(chuàng)性混合方法,該方法結(jié)合了兩種互連的寄生參數(shù)提取引擎,二者以無縫和自主的方式使用高級(jí)啟發(fā)法協(xié)同工作,以便在給定的情景中應(yīng)用最合適的參數(shù)提取方法。利用 Calibre xACT 平臺(tái),設(shè)計(jì)人員再也不必在其最先進(jìn)工藝的設(shè)計(jì)中對(duì)參數(shù)提取的速度或精度進(jìn)行折衷了。

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所屬分類:技術(shù)方案
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