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小型PCB設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)如何利用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查來化解高速設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)
[摘要]

對(duì)于PCB設(shè)計(jì)工程師和小型團(tuán)隊(duì)而言，解決SI（信號(hào)完整性）和EMI（電磁干擾）問題是一項(xiàng)每天都要面對(duì)的挑戰(zhàn)。通過使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查 (DRC)，避免輻射測(cè)試失敗或信號(hào)完整性相關(guān)故障等最終產(chǎn)品問題。本白皮書回顧了 SI/EMI 挑戰(zhàn)的常見原因以及如何輕松應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。
資源類型：pdf
資源大?。?/span>1.86MB
所屬分類：技術(shù)方案
Siemens Digital Industries Software簡(jiǎn)介
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