盡管自動(dòng)化圖形匹配在數(shù)字集成電路物理驗(yàn)證中廣泛使用，但其在模擬領(lǐng)域的采用則要遲緩得多。事實(shí)上，自定義模擬電路的本質(zhì)使其非常適合于自動(dòng)化圖形匹配技術(shù)所提供的一些新型物理驗(yàn)證技術(shù)，從而讓設(shè)計(jì)師在確保設(shè)計(jì)質(zhì)量的同時(shí)還能減少驗(yàn)證時(shí)間。通過(guò)采用基于圖形的驗(yàn)證流程，只需極少的工作即可輕松找出通過(guò)傳統(tǒng)方法不易檢測(cè)到的錯(cuò)誤。利用其自動(dòng)、精確地匹配預(yù)期幾何形狀的功能以及同時(shí)在多個(gè)層上執(zhí)行操作的功能，Calibre Pattern Matching 提供了自動(dòng)驗(yàn)證模擬電路物理布局的唯一可能。