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[摘要] 分立電阻器在最后的封裝狀態(tài)要進(jìn)行單點(diǎn)通過/失敗測試，這對確保產(chǎn)品符合制造商性能指標(biāo)至關(guān)重要，而且可以在出貨前識(shí)別劣質(zhì)電阻器以及輕微不良的電阻器。通常要對電阻器進(jìn)行兩項(xiàng)測試：電阻器電壓系數(shù)測試以及電阻器公差帶測試。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量，這些測試必

采用吉時(shí)利707B型或708B型半導(dǎo)體開關(guān)矩陣主機(jī)設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體測量的高吞吐能力開關(guān)系統(tǒng)

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[摘要] 半導(dǎo)體特性分析實(shí)驗(yàn)室、技術(shù)開發(fā)實(shí)驗(yàn)室、建模實(shí)驗(yàn)室和可靠性實(shí)驗(yàn)室經(jīng)常需要各種不同的源測量儀器，并且需要連接至多個(gè)裝置。開關(guān)系統(tǒng)可以確保測試條件和測量具有極高的可靠性。

利用2602型系統(tǒng)數(shù)字源表構(gòu)建可擴(kuò)展、多管腳、多功能IC測試系統(tǒng)

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[摘要] 消費(fèi)電子產(chǎn)品，如手機(jī)、PDA（個(gè)人數(shù)字助理）、數(shù)碼相機(jī)以及便攜式娛樂系統(tǒng)，正在變得更小、更快和更便宜，而且這類新產(chǎn)品的面市時(shí)間也比以往更短了。為了與時(shí)俱進(jìn)，半導(dǎo)體、無源和有源器件行業(yè)正不斷推動(dòng)其研發(fā)工藝向集成度和復(fù)雜度更高的水平進(jìn)步。這種在

利用6517A型靜電計(jì)/高阻表對惰性氣體或高真空中的小型晶體進(jìn)行高值電阻測量

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[摘要] 晶體材料是現(xiàn)代電子和光電子技術(shù)的基礎(chǔ)。因此，這些材料的電子特性，如(各向異性) 電導(dǎo)率和光電導(dǎo)率以及與這些特性有關(guān)的溫度依存性，都是研究人員關(guān)注的問題。采用大量結(jié)晶技術(shù)的晶體生長尺寸可能不大，但往往表現(xiàn)出極高的電阻。這個(gè)應(yīng)用筆記說明如何利用

如何使用4200-CVU 電容-電壓單元測量電感

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[摘要] 雖然吉時(shí)利4200半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)中的4200-CVU電容選件不能直接測量電感，但是用戶可以簡單地通過測量得到的參數(shù)：阻抗（Z）、相位角（或θ）和測試頻率（f）提取電感值。這個(gè)應(yīng)用指南介紹了用戶如何通過4200半導(dǎo)體特性分析系

理解線性電源指標(biāo)

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[摘要] 乍一看，可變直流電源設(shè)備似乎很簡單。但它是一種極為復(fù)雜、準(zhǔn)確而且耐用的高負(fù)荷電子設(shè)備。無論是阻性、感性、容性、低阻抗、高阻抗、穩(wěn)態(tài)還是可變負(fù)載，電源設(shè)備都必須可靠地提供穩(wěn)定、精密和清潔的電壓和電流。在說明書中明確說明了電源達(dá)到此

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